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Nitrogen gas supply system for dry-cut working machine 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-001/00
출원번호 US-0310730 (1999-05-13)
우선권정보 JP0227670 (1998-07-28)
발명자 / 주소
  • Ukai Hisashi,JPX
  • Suzuki Toshiyuki,JPX
  • Suzuki Takayuki,JPX
출원인 / 주소
  • Enshu Ltd., JPX
대리인 / 주소
    McGinn & Gibb, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 7

초록

A nitrogen gas supply system for dry-cut working machine, comprising a nitrogen gas generator for separating and extracting only nitrogen gas from the atmosphere, and a supplier for sending the extracted nitrogen gas to a working part. The nitrogen gas obtained from the atmosphere can effectively be

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A nitrogen gas supply system for a dry-cut working machine, comprising:a nitrogen gas generator which separates and extracts only nitrogen gas existing in the atmosphere, said generator comprising heating means for preventing condensation of moisture in said atmosphere pr

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Homanick George (Northville MI) Early Edward J. (Oakland MI), Controlled atmosphere machining.
  2. Runkle Franklin D. (Novi MI) Tennenhouse Gerald J. (Southfield MI), Method and apparatus for increasing wear life of ceramic tools.
  3. Itoh Masao (Hachioji JPX) Kawada Sunao (Hachioji JPX) Inagi Masataka (Hachioji JPX) Hashimoto Takayoshi (Hachioji JPX) Itoh Toyotsugu (Hachioji JPX), Method of surface machining for substrate of electrophotographic photoreceptor.
  4. Knoblauch, Karl; Heimbach, Heinz; Harder, Burkhard, Process for recovering nitrogen from oxygen-containing gas mixtures.
  5. Barbe Christian (Fontenay-Aux-Roses FRX), Process for supplying nitrogen by means of semi-permeable membranes or of separators of gases by adsorption.
  6. Combier Alain (Westmount CAX), Process for supplying nitrogen from an on-site plant.
  7. Nguyen Jane H. (Fort Bend TX), Semiconductors structure precision lapping method and system.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Usuki,Hiroshi, Controlled atmosphere cutting method using oxygen enrichment and cutting tool.
  2. Jingu, Takahiro, Inspection device.
  3. Shields, Jason Robert; Ben Moshe, Nir; Hazelton, Andrew J., Protected lens cover plate for an optical metrology device.
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