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High-sensitivity strain probe 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-005/28
출원번호 US-0313214 (1999-05-18)
발명자 / 주소
  • Lin Yung-Shi,TWX
출원인 / 주소
  • Industrial Technology Research Institute, TWX
대리인 / 주소
    Smith Grambrell & Russell, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 10

초록

The present invention is a high-sensitivity strain probe used in high-sensitivity sensor elements of force type. By the use of semiconductor process and wire bonding technology as well as integrated forming method, the fabricated elements include: a probe, a cantilever, a cantilever substrate, resis

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method of fabrication of a high-sensitivity strain probe comprising the following steps:providing a cantilever substrate,shaping the cantilever substrate,forming a pit in the cantilever substrate so as to provide a mold for a probe,forming the probe in the pit,forming a

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Albrecht Thomas (San Jose CA) Tortonese Marco (Stanford CA) Barrett Robert (Mountain View CA), Atomic force microscope having cantilever with piezoresistive deflection sensor.
  2. Yasue Takao (Itami JPX) Nishioka Tadashi (Itami JPX), Cantilever for atomic force microscope and method of manufacturing the cantilever.
  3. Lammert Michael Dean ; McIver George William, Cantilevered acceleration switch responsive to acceleration parallel to plane of substrate upon which the switch is fabricated and methods.
  4. Lin Yung-Shi,TWX, High-sensitivity strain probe.
  5. Toda Akitoshi (Tokyo JPX) Takayama Michio (Nagano JPX) Matsuyama Katsuhiro (Tokyo JPX) Sakai Nobuaki (Tokyo JPX) Nakamura Yasushi (Yamanashi JPX), Integrated AFM sensor.
  6. Elings Virgil B. (Santa Barbara CA) Gurley John A. (Santa Barbara CA), Jumping probe microscope.
  7. Elings Virgil B. (Santa Barbara CA), Methods of operating atomic force microscopes to measure friction.
  8. Tohda Takao (Ikoma JPX) Kado Hiroyuki (Osaka JPX) Yamamoto Shinichi (Tsuchiura JPX), Scanning probe microscope and method for measuring surfaces by using this microscope.
  9. Galiano Philip S. (1 Graham Ave. Metuchen NJ 08840), Scoop scraper tool.
  10. Roberts Joseph A. (Grafton NH), Supported strain gauge and joy stick assembly and method of making.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Hasegawa, Tsuyoshi; Aono, Masakazu; Nakayama, Tomonobu; Okuda, Taichi; Terabe, Kazuya; Tanaka, Hirofumi, Apparatus for evaluating electrical characteristics.
  2. Woodard,Stanley E.; Fox,Robert L.; Bryant,Robert G., Methods and apparatus to increase sound quality of piezoelectric devices.
  3. Nam, Hyo-Jin; Kim, Young-Sik, Nano data writing and reading apparatus using cantilever structure and fabrication method thereof.
  4. Fragala, Joseph S.; Henning, Albert K.; Shile, Raymond R., Piezoresistor height sensing cantilever.
  5. Lutter, Stefan, Process for producing an SPM sensor.
  6. Moore,Thomas M., Strain detection for automated nano-manipulation.
  7. Grange, Hubert, Stress sensor and its manufacturing method.
  8. Ll, Li; Peng, Zhilong; Wang, Wei, Test substrate and method for measuring contact force.
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