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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0222015 (1998-12-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 55 인용 특허 : 12 |
A method for combined treatment of an object simultaneously with an ion beam and a magnetron plasma consists in that an object, e.g., a semiconductor substrate, is treated with ions of a working gas emitted from an ion-beam source and with particles of a sputterable material directed toward the obje
[ What is claimed is:] [1.] A combined sputtering magnetron/ion beam source for treating an object comprising:an ion beam source for emitting an ion beam in a direction toward said object, said ion beam source having a cathode, an anode, and at least one ion-emitting slit in said cathode;a planar sp
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