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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0490496 (2000-01-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 49 인용 특허 : 1 |
The reliability of a plasma processing chamber has been increased using a heat moderating material to facilitate controlling heat removal from dielectric parts of the plasma chamber. The heat moderating material performs at least one of the functions: moderating heat transfer rate and functioning as
[ What is claimed is:] [1.] A method of plasma processing comprising the steps of:providing a plasma in a plasma chamber, the plasma chamber including a dielectric exposed to heat generated by the plasma, the dielectric having a surface;providing a cooling surface to remove heat from the dielectric
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