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Self-aligning eddy current probe holder 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-027/90
  • G01N-027/82
  • G01R-033/00
출원번호 US-0154882 (1998-09-17)
발명자 / 주소
  • Granger
  • Jr. Carl
  • Day David E.
  • Hewton Thomas B.
출원인 / 주소
  • General Electric Company
대리인 / 주소
    Hess
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 12

초록 ▼

An intermediary device is provided between an eddy current bolt hole inspection machine and an associated eddy current probe to positionally align the probe in each bolt hole to be inspected. A first end of the device is attachable to the eddy current bolt hole inspection machine, and a second end,

대표청구항 ▼

[ What is claimed is:] [1.] An intermediary device is provided between an eddy current bolt hole inspection machine attached to a first end of the intermediary device and an associated eddy current probe receivable into a second end of the intermediary device opposite the first end, the device compr

이 특허에 인용된 특허 (12)

  1. Betts William B. (Alva OK), Apparatus for detecting insect-induced vibrations in particulate matter.
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  2. Geier Gerard W. (Cincinnati OH) Herron William L. (West Chester OH) Brouse ; Sr. Charles M. (Richwood KY), Automatically self-adjusting eddy current probe for bolt hole inspection.
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  3. Burris Kirk, Bolt hole probe with flexure.
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  4. Sutton ; Jr. George H. (Cincinnati OH) Little Francis H. (Cincinnati OH) Granger ; Jr. Carl (West Chester OH) Stapf Philip F. (Cincinnati OH), Eddy current array inspection device.
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  5. Dau Gary J. (Palo Alto CA) Schiltz David C. (Columbus OH) Schneider William R. (Athens OH), Eddy current probe with sensor supporting expandable elastic membrane for inspecting hollow cylindrical structures.
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  6. Pirl William E. (Levelgreen PA), Flexible delivery system for a rotatable probe.
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  7. Gravel James L. ; Kruse Steve D. ; Olson Randall C., Modular probe.
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  8. Timm Stephen D. (3040-125th Ave. ; SE. ; #10 Bellevue WA 98005), Probe apparatus.
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  9. Woodbury Russell K. (Renton WA), Rotary eddy current flaw detector utilizing differentially unbalanced coils and the amplitude of a rotary induced pulse.
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  10. Mikhailovich Ulitin Y. (Moscow RUX) Evgenevna Gorskaya L. (Moscow RUX), Structure for a cylindrical eddy-current probe having a hollow body containing an elastic substrate with axially aligned.
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  11. Meiffren Jean-Luc (Saint Germain les Corbeil FRX) Robin JosC. J. (Voisins le Bretonneux FRX), Support device for a probe for the detection and location of possible faults within a bore.
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  12. Cary Andrew S. (Columbus OH) Rutter Carl A. (Worthington OH), Transducer assemblage for hand-held vibration meters.
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이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Fields, Michael Wayne; Dziech, Michael Leonard; Dierdorf, Jon Russel; Mellors, Anthony William; Johnson, James Michael, Internal eddy current inspection.
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  2. Tenley,Brenda Catherine; Dziech,Michael Leonard; Traxler,Joseph Anthony, Methods and apparatus for inspecting a component.
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  3. Batzinger, Thomas James; Nath, Shridhar Champaknath; Rose, Curtis Wayne, Omnidirectional eddy current probes, array probes, and inspection systems.
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