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Apparatus and method for binocular measurement system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-029/04
출원번호 US-0260955 (1999-03-02)
발명자 / 주소
  • Harris David E.
출원인 / 주소
  • Harris Instrument Corporation
대리인 / 주소
    Standley & Gilcrest LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 36

초록

An apparatus and method are disclosed wherein a linear array of electromagnetic radiation emitting devices are arranged in association with a moving workpiece. Electromagnetic radiation emitted by the array is received by two or more receivers. Several non-contact measurements may be obtained on a w

대표청구항

[What is claimed is:] [1.]at least two discrete electromagnetic radiation emitting devices, said devices located a distance from a first surface of a material workpiece, and extending partially outwardly from an edge of said workpiece, each of said devices being responsive to the application of curr

이 특허에 인용된 특허 (36)

  1. Harris David E., Apparatus and method for binocular measurement system.
  2. Harris David E., Apparatus and method for binocular measurement system.
  3. Igaki, Seigo; Nakakuki, Tadao; Inagaki, Takefumi; Oikawa, Shuetsu; Fujimura, Takashi, Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance.
  4. Curl, Barry J., Apparatus for determining with high resolution the position of edges of a web.
  5. Forbes James A. (P.O. Box 854 Doylestown PA 18901), Apparatus for optically scanning an object.
  6. Hirose Minoru (Yokohama JPX), Automatic bank note transaction apparatus.
  7. Kawakami Moriatsu (Zushi JPX), Bill discriminating device.
  8. DeMenthon Daniel F. (Columbia MD), Computer vision system for position monitoring in three dimensions using non-coplanar light sources attached to a monito.
  9. Blaser Peter T. (Dielheim DEX), Device for detecting the edge location of an object.
  10. Merilainen ; Heikki ; Strom ; Ulf J. G., Device for measuring the width of timber.
  11. Keen Harry J. (St. Johnsbury VT) Dunne Mike (Peacham VT), Dimension-measuring apparatus.
  12. Loose Peter W. (Chelmsford GB2), Edge detection apparatus.
  13. Bolza-Schnemann Claus A. (Wrzburg DEX), Edge location measuring head.
  14. Holmes ; Jones F. (Portland OR) Jacob Ralph L. (Aloha OR), Electro-optical scanning system with self-adaptive scanning capability.
  15. Tournois Pierre (Paris FRX), Imaging system with multiple, simultaneous transmissions.
  16. Ahlquist ; Gary W. ; Milley ; Michael K., Length measurement apparatus for continuously advancing articles.
  17. Nishiyama Keizo (Yokohama JPX), Measuring apparatus.
  18. Spies Hans (Pfaffenhofen DEX) Weishaupt Walter (Munich DEX), Method and a device for recognizing the condition of a road.
  19. Chen Wen-Hsien (Ta-hsi NY TWX) Lean Eric G. (Chappaqua NY 4), Method and apparatus for acoustic scanning using bulk wave scattering of bulk waves by an acoustic grating.
  20. Harris David E. (Powell OH), Method and apparatus for edge detection and location.
  21. Okada Hiromi (Fujinomiya JPX) Kabutomori Masuo (Fujinomiya JPX) Ikeno Hiroshi (Hachioji JPX) Saitou Tamio (Hachioji JPX), Method and apparatus for edge detection of transparent films.
  22. Pauli Gnter (Eichenau DEX) Krause Gnter (Munich DEX) Lob Erwin (Munich DEX), Method and means for determining the state and/or genuineness of flat articles.
  23. Fujita Hiroo (Tanashi JPX), Micro-dimensional measurement apparatus.
  24. Sabersky Andrew P. (Santa Cruz CA) Littlestone Nicholas (Santa Cruz CA) Abbott Jack E. (Santa Cruz CA) Gibbons William J. (Modesto CA) D\Orazio Robert R. (Santa Cruz CA) Smith Nathan R. (Stillwater M, Non-contact high resolution displacement measurement technique.
  25. Schietinger Charles W. (Portland OR) Adams Bruce E. (Portland OR), Non-contact optical techniques for measuring surface conditions.
  26. Kuwabara Yoshiharu (Kanagawa JPX) Takayama Yasuharu (Kanagawa JPX) Hamada Hiroyoshi (Kanagawa JPX), Optical measuring device.
  27. Kuwabara Yoshiharu (Kanagawa JPX) Hamada Hiroyoshi (Kanagawa JPX) Kuwata Masayuki (Kanagawa JPX), Optical measuring device with position indicator.
  28. King Charles (Elmira NY), Optical measuring system.
  29. Sadamitsu Nishihara (Tokyo JPX) Yuji Kawahara (Saitama JPX), Optical measuring system.
  30. Bjorkelund, Mats, Photoelectric dimension measuring system.
  31. Favre Nicolas (Cornaux CHX), Process for inspecting the physical state of a printed document and an installation for putting the process into operati.
  32. Nishikawa Mineki (Nakamachi JPX) Kakegawa Makoto (Kawasaki JPX) Iwanaga Masayuki (Yokohama JPX) Shouta Koujirou (Yokohama JPX), Scintillation camera.
  33. Gorgone Robert L. (Mentor OH) Iannadrea Gerald M. (Painesville OH) Dolejs Anthony H. (Bedford Heights OH) Knox Bruce R. (Wickliffe OH) Kovach Alan J. (Cleveland OH), Security validator.
  34. Nishito Akihiro (Kawasaki JPX) Ohtombe Ko (Tokyo JPX) Yamakawa Susumu (Yokohama JPX) Nakamura Yasushi (Yokohama JPX), System for identifying currency note.
  35. Markis William R. (Rochester NY), System for measuring the dimensions of a workpiece.
  36. Norton-Wayne Leonard (London GB2), Workpiece identification apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Fung, Michael S. C.; Sun, Bill N. C.; Sun, Cecily R. Y., Anti-C5 monoclonal antibodies.
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