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Vapor assisted rotary drying method and apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F26B-005/08
출원번호 US-0413622 (1999-10-06)
발명자 / 주소
  • Bergman Eric J.
출원인 / 주소
  • Semitool, Inc.
대리인 / 주소
    Lyon & Lyon LLP
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 17

초록

A process for drying semiconductor wafers includes loading a wafer wetted with rinsing fluid into a rotor and orientating the wafer along a substantially vertical plane. A gas saturated with a solvent vapor is passed over the wafer surfaces until condensation forms on the wafer and displaces residua

대표청구항

[What is claimed is:] [1.]placing the wafer in a rotor and orienting the at least one surface in a substantially vertical plane;rotating the wafer with the rotor at a first rotation speed;passing a saturated vapor over the wafer to condense the vapor into condensate on the surfaces of the wafer;rota

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Steck Ricky B. (West Jordan UT), Apparatus and method for rinsing and drying silicon wafers.
  2. Hashimoto Hiroshi,JPX ; Tateyama Kiyohisa,JPX ; Yamaguchi Kiyomitsu,JPX ; Matsuda Yoshitaka,JPX ; Uchihira Norio,JPX ; Sakai Mitsuhiro,JPX ; Satou Fumio,JPX, Apparatus and method for supplying process solution to surface of substrate to be processed.
  3. Mehta Jitesh R. (Eagan MN) Burkman Don C. (Excelsior MN) Mezaki Cooky (Tokyo JPX), Apparatus and process for static drying of substrates.
  4. Curtis Gary L. ; Thompson Raymon F. ; Berner Robert W. ; Fix Ed, Carrierless centrifugal semiconductor processing system.
  5. Thompson Raymon F. ; Owczarz Aleksander, Centrifugal wafer carrier cleaning apparatus.
  6. Olesen Michael B. ; Bran Mario E., Centrifugal wafer processor and method.
  7. Schumacher Kevin S. (North Caldwell NJ), Isopropyl alcohol vapor dryer system.
  8. Ferrell Gary W. (608 Terrace Ave. Half Moon Bay CA 94019), Method and apparatus for drying parts and microelectronic components using sonic created mist.
  9. Bran Mario E. (Garden Grove CA), Method and apparatus for drying semiconductor wafers.
  10. Leenaars Adriaan F. M. (Eindhoven NLX) Huethorst Johanna A. M. (Eindhoven NLX) Marra Johannes (Eindhoven NLX), Method for removing in a centrifuge a liquid from a surface of a substrate.
  11. Ueno Kinya (Nirasaki JPX) Taniyama Hiroki (Kofu JPX), Method for washing wafers.
  12. Kishida Yoshifumi (Nara JPX) Takeuchi Masayoshi (Akishima JPX), Method of washing and drying substrates.
  13. McConnell Christopher F. (Gulph Mills PA) Walter Alan E. (Exton PA), Process and apparatus for treating wafers with process fluids.
  14. Ohmi Tadahiro (1-17-301 ; Komegabukuro 2-chome Aoba-ku ; Sendai-shi ; Miyaga-ken 980 JPX) Yonekawa Naomichi (Sendai JPX) Horiki Hiroyuki (Tokyo JPX) Kaji Toshimitsu (Tokyo JPX) Kunimoto Fumitomo (Sen, Rotary cleaning method with chemical solutions and rotary cleaning apparatus with chemical solutions.
  15. Bergman Eric J. ; Berner Robert W. ; Oberlitner David, Semiconductor processing using vapor mixtures.
  16. Nafziger Charles P. (2445 E. Encanto Mesa AZ 85213), Single-chamber cleaning, rinsing and drying apparatus and method therefor.
  17. Kusuhara Masaki (Tokyo JPX), Vapor drying apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (14)

  1. Dolechek, Kert; Davis, Jeffry, Cross flow processor.
  2. O'Donnell, Robert, In-situ reclaim of volatile components.
  3. Ho, Henry; Pang, Lily L.; Nguyen, Anh N.; Lerner, Alexander N., Integrated bevel clean chamber.
  4. Kim, Eui-Gyu; Kim, Tae-Hyung, Method of descaling a mask.
  5. Hans-Jurgen Kruwinus AT, Process and device for drying disk-like objects.
  6. John Michael Cotte ; Dario L. Goldfarb ; Kenneth John McCullough ; Wayne Martin Moreau ; Keith R. Pope ; John P. Simons ; Charles J. Taft, Process of drying semiconductor wafers using liquid or supercritical carbon dioxide.
  7. Christenson,Kurt K.; Nelson,Steven L.; Oikari,James R.; Olson,Jeff F.; Wu,Biao, Rinsing processes and equipment.
  8. Yang, Jen-Yuan, Substrate drying system.
  9. Shindo, Naoki; Iino, Tadashi, Substrate processing apparatus and substrate processing method.
  10. Shindo, Naoki; Iino, Tadashi, Substrate processing apparatus and substrate processing method.
  11. Nishimura, Hideki; Nakashima, Mikio, Substrate processing method, and program storage medium therefor.
  12. Nishimura, Hideki; Nakashima, Mikio, Substrate processing method, substrate processing apparatus, and program storage medium.
  13. Buchanan, Daryl; Tariq, Faisal; Mei, Hai; Tison, Stuart, System and method for producing and delivering vapor.
  14. Yong-joon Cho KR; Gyu-hwan Kwag KR, Wafer dryer comprising revolving spray nozzle and method for drying wafers using the same.
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