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System margin and core temperature monitoring of an integrated circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-025/00
출원번호 US-0372423 (1995-01-13)
발명자 / 주소
  • Evoy David R.
  • Richardson Nicholas J.
출원인 / 주소
  • VLSI, Technology, Inc.
대리인 / 주소
    Weller
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 11

초록

A circuit monitor performance of an integrated circuit. The circuit includes a clock signal and a phase delay detection circuit. The clock signal is used by the integrated circuit to generate an output signal on an output pin of the integrated circuit. The phase delay detection circuit detects relat

대표청구항

[We claim:] [1.]a phase delay detection circuit coupled to an output pin of the integrated circuit and to a clock signal, the clock signal being used to clock circuitry within the integrated circuit, the circuitry within the integrated circuit generating an output signal on the output pin of the int

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Swapp Mavin C. (Mesa AZ), Apparatus and method for testing semiconductor devices.
  2. Gasbarro James A. (Mountain View CA) Horowitz Mark A. (Palo Alto CA), Apparatus for testing timing parameters of high speed integrated circuit devices.
  3. Farwell William D. (Thousand Oaks CA), Built-in test circuitry providing simple and accurate AC test of digital microcircuits with low bandwidth test equipment.
  4. Cabaniss Frank W. (Columbia SC), Circuit and method for determining the operating performance of an integrated circuit.
  5. Reitmeier Glenn A. (Trenton NJ) Aschwanden Felix (Thalwil CHX), Digital phase comparator circuit producing sign and magnitude outputs.
  6. Baker Donal E. (American Township ; Allen County OH), Electronic phase detector having an output which is proportional to the phase difference between two data signals.
  7. Honma Tatsuya (Gyoda JPX), Logical comparison circuit.
  8. Fujimura Nobuaki (Kodaira JPX), Method and apparatus for detecting cable length.
  9. Hiwada Kiyoyasu (Kanagawa JPX) Kasuga Nobuyuki (Tokyo JPX), Method and apparatus for generating test waveforms to be applied to a device under test.
  10. Farwell William D. (Thousand Oaks CA) Mascitelli Alida G. (Northridge CA), Method for continuously measuring delay margins in digital systems.
  11. Masumoto Rodney T. (Tustin CA), Phase window test circuit.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Nobutaka Nishigaki JP, Apparatus for controlling internal heat generating circuit.
  2. Nishigaki,Nobutaka; Ninomiya,Ryoji; Sakai,Makoto, Method and apparatus for controlling internal heat generating circuit.
  3. Bueti,Serafino; Courchesne,Adam J.; Goodnow,Kenneth J.; Norman,Jason M.; Stanski,Stanley B.; Vento,Scott T., Method and apparatus for monitoring integrated circuit temperature through deterministic path delays.
  4. Sheehan, Gary E.; Wan, Jun, Method for synchronized delta-VBE measurement for calculating die temperature.
  5. Pavithran, Praveen; Pelgrom, Marcel; Wieling, Jean; Veendrick, Hendricus Joseph, On silicon interconnect capacitance extraction.
  6. Wan, Jun; Holloway, Peter R.; Sheehan, Gary E., Synchronized delta-VBE measurement system.
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