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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0496849 (1995-06-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 5 |
PtSi/Si Schottky diode infrared detectors are currently being used in large-area focal plane arrays for imaging in the 3-5 micron atmospheric transmission window. Their photoresponse cuts off at about 6 microns, beyond which they cannot detect infrared ratiation. Because of the nature of Schottky di
[What is claimed is:] [1.]a silicon substrate having a first and second surface;a silicide layer placed on the first surface of the silicon substrate to form a detector which has a barrier height and which operates in an infrared portion of an electromagnetic spectrum by internal photoemission of ho
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