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Process for thin film formation by sputtering 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • C23C-014/34
출원번호 US-0315016 (1999-05-20)
우선권정보 JP0118172 (1999-04-26)
발명자 / 주소
  • Kanazawa Hidehiro,JPX
  • Otani Minoru,JPX
  • Ando Kenji,JPX
  • Suzuki Yasuyuki,JPX
  • Biro Ryuji,JPX
출원인 / 주소
  • Canon Kabushiki Kaisha, JPX
대리인 / 주소
    Fitzpatrick, Cella, Harper & Scinto
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 2

초록

A process is provided for forming a thin film having refractive index thereof varying continuously or stepwise in a thickness direction. The process comprises sputtering in a vacuum chamber by introducing, during film formation, at least two kinds of gases selected from a nitrogen-containing gas, an

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A process for forming a thin film having refractive index thereof varying continuously or stepwise in a thickness direction, comprising sputtering by introducing, during film formation, a nitrogen-containing gas, an oxygen-containing gas, and a fluorine-containing gas w

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Mitsui Kotaro (Itami JPX) Kato Mari (Itami JPX) Oda Takao (Itami JPX) Yoshida Susumu (Itami JPX), Antireflective film for photoelectric devices and manufacturing method thereof.
  2. Ingrey Sidney Ivor Joseph (Aylmer East CA), Sputtered dielectric thin films.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Fiukowski, Joerg; List, Matthias; Hecht, Hans-Christian; Milde, Falk, Annealable layer system.
  2. Nukeaw, Jiti; Porntheeraphat, Supanit; Sungthong, Apichart, Gas-timing method for depositing oxynitride films by reactive R.F. magnetron sputtering.
  3. Ranade, Alpana; Matos, Marvi A., Gradient thin films.
  4. Ranade, Alpana N.; Matos, Marvi A.; Ghabchi, Arash, Interlayer composite substrates.
  5. Fiukowski, Joerg; List, Matthias; Hecht, Hans-Christian; Milde, Falk, Layer system that can be annealed and method for producing the same.
  6. Takaki, Satoshi, Method and apparatus for forming fluoride thin film.
  7. Tilsch, Markus K.; Smith, Joseph; Grigonis, Marius, Method and sputter-deposition system for depositing a layer composed of a mixture of materials and having a predetermined refractive index.
  8. Kenji Ando JP; Minoru Otani JP; Yasuyuki Suzuki JP; Toshiaki Shingu JP; Ryuji Biro JP; Hidehiro Kanazawa JP, Thin film production process and optical device.
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