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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0299451 (1999-04-26) |
우선권정보 | DE9820861 (1998-05-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 49 인용 특허 : 6 |
A spectrometer for the simultaneous measurement of several spectral lines from a sample (2) with several wavelength selectors (5a, 6a, 7; 5b, 6b, 7) which supply light of a certain wavelength selectively to a detector (9), wherein each wavelength selector selects a different wavelength, is character
[ What is claimed:] [1.]1. A spectrometer for the measurement of spectral lines emitted from a sample, the spectrometer comprising:at least one first wavelength selector for selecting first light from the sample, said first light having a first wavelength;at least one second wavelength selector for
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