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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0272568 (1999-03-19) |
우선권정보 | JP0214490 (1994-09-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 9 |
A projection exposure system for printing the pattern formed on a reticle onto a wafer includes a reticle stage (5) and a wafer stage. A first reference plate (9) having a first reference pattern (MM1) formed thereon is mounted on the reticle stage (5), and a second reference plate (25) having a sec
[ What is claimed is:] [1.]1. A scanning exposure apparatus in which a first object and a second object are moved synchronously for scanning exposure, the apparatus comprising:a projection system to be disposed between the first object and the second object, which projects an image of a pattern form
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