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Projection exposure system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G03B-027/42
  • G03B-025/53
출원번호 US-0272568 (1999-03-19)
우선권정보 JP0214490 (1994-09-08)
발명자 / 주소
  • Ota Kazuya,JPX
출원인 / 주소
  • Nikon Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Oliff & Berridge PLC
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 9

초록

A projection exposure system for printing the pattern formed on a reticle onto a wafer includes a reticle stage (5) and a wafer stage. A first reference plate (9) having a first reference pattern (MM1) formed thereon is mounted on the reticle stage (5), and a second reference plate (25) having a sec

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A scanning exposure apparatus in which a first object and a second object are moved synchronously for scanning exposure, the apparatus comprising:a projection system to be disposed between the first object and the second object, which projects an image of a pattern form

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Mizutani Hideo (Yokohama JPX) Nishi Kenji (Kawasaki JPX), Aligning device for exposure apparatus.
  2. Kamon Kazuya (Itami JPX), Alignment mark and aligning method using the same.
  3. Tanimoto Akikazu (Yokohama JPX), Exposure apparatus.
  4. Nishi Kenji (Yokohama JPX), Exposure apparatus and method which synchronously moves the mask and the substrate to measure displacement.
  5. Smith Henry I. (Sudbury MA) Modiano Alberto M. (Cambridge MA) Moon Euclid E. (Boston MA), On-axis interferometric alignment of plates using the spatial phase of interference patterns.
  6. Taniguchi Tetsuo (Yokohama JPX), Projection exposure apparatus and method with changing imaging characteristics and illumination conditions.
  7. Ota Kazuya (Tokyo JPX) Komatsu Kouichirou (Tokyo JPX), Projection scanning exposure apparatus with synchronous mask/wafer alignment system.
  8. Mizutani Hideo (Yokohama JPX), Scanning exposure apparatus having a scanning device for scanning light beams along the movement direction of a moving m.
  9. Katagiri Soichi (Hachiohji JPX) Moriyama Shigeo (Tama JPX) Terasawa Tsuneo (Ohme JPX) Itou Masaaki (Higashimurayama JPX), Workpiece having alignment marks for positioning a pattern at a different pitch to be formed thereon, and method for fab.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Tsai, Haiming, Hand truck.
  2. Taniguchi, Tetsuo; Tsuji, Toshihiko, Inspection method and apparatus for projection optical systems.
  3. Taniguchi, Tetsuo; Tsuji, Toshihiko, Inspection method and apparatus for projection optical systems.
  4. Henderson,David, Mechanism comprised of ultrasonic lead screw motor.
  5. Henderson,David; Guelzow,James; Hoffman,Conrad; Culhane,Robert, Mechanism comprised of ultrasonic lead screw motor.
  6. Henderson,David; Viggiano, III,Dan, Mechanism comprised of ultrasonic lead screw motor.
  7. Van Toorenburg, Leon Lammers; Prentice, Mark Eric James; Bond, Craig Richard; Mann, Graham Leslie, Mobile instrument, viewing device, and methods of processing and storing information.
  8. Kobayashi, Yoshinori; Ishibashi, Shigetomo; Hara, Masato, Projection aligner.
  9. Kobayashi, Yoshinori; Ishibashi, Shigetomo; Hara, Masato, Projection aligner.
  10. Kobayashi, Yoshinori; Ishibashi, Shigetomo; Hara, Masato, Projection aligner.
  11. Kobayashi, Yoshinori; Ishibashi, Shigetomo; Hara, Masato, Projection aligner.
  12. Kazuya Ota JP, Projection exposure system.
  13. Mei, Wenhui; Kanatake, Takashi, System and method for performing lithography on a substrate.
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