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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0306441 (1999-05-06) |
우선권정보 | KR0002027 (1999-02-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 43 인용 특허 : 5 |
A hot carrier measuring circuit of the present invention, which measures the characteristic degradation of a semiconductor device due to AC operation, includes a pulse generator generating at least two pulse signals which are partially overlapped with each other and have various duty ratios, a level
[ What is claimed is:] [1.]1. A hot carrier measuring circuit, comprising:a pulse generator generating at least two pulse signals which are partially overlapped with each other and have various duty ratios, wherein the pulse generator comprises:a ring oscillator comprising a plurality of inverters,a
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