[특허]Temperature detecting circuit, temperature detecting method and photo-electric conversion apparatus

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H03K-003/42
출원번호	US-0368373 (1999-08-04)
우선권정보	JP0241854 (1998-08-27)
발명자 / 주소	Matsuno Yasushi,JPX Shinohara Mahito,JPX
출원인 / 주소	Canon Kabushiki Kaisha, JPX
대리인 / 주소	Morgan & Finnegan LLP
인용정보	피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 2

초록 ▼

An object of the invention is to detect precisely a temperature in a temperature detection circuit for taking the temperature of a semiconductor substrate, wherein a first bipolar transistor Q1 and a second bipolar transistor Q2 that have different emitter areas and have the same polarities are fabricated in a single substrate and connected in parallel to each other, of which respective collectors are connected to a DC voltage source while a base of the first transistor Q1 having a lager emitter area is connected to a reference voltage source, an emitter is connected to a first constant current source 1, a base of the second transistors Q2 is connected to an output terminal of an operational amplifier 3 and an emitter is connected to a second constant current source 2, the respective emitters of the transistor Q1 and Q2 being separately connected to individual input terminals of the operational amplifier 3 and the temperature of the semiconductor substrate being detected from an output voltage produced from the operational amplifier 3.

대표청구항 ▼

[ What is claimed is:] [11.]11. A temperature detection circuit comprising:two diodes connected in parallel to each other, one of the two diodes being connected between an input and an output of an operational amplifier; andtemperature detection means comprising said operational amplifier for comparing a temperature from a temperature characteristic of a differential voltage between two respective voltages which are generated by providing said two diodes with a current density ratio.

이 특허에 인용된 특허 (2)

Ogawa Kimiaki (Tokyo JPX), Strobe apparatus with color temperature control.
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Hughes John B. (Hove GB2) Moulding Kenneth W. (Horley GB2), Temperature threshold sensing circuit.
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이 특허를 인용한 특허 (13)

Tesi, Davide, Bandgap voltage generator with a bipolar assembly and a mirror assembly.
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Tesi,Davide; Zampieri,Ugo, Integrated digital temperature sensor.
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Van Phan,Nghia; Rosno,Patrick Lee; Strom,James David, Method and reference circuit for bias current switching for implementing an integrated temperature sensor.
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Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
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Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
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Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
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Griffin, Jed; Russell, Daniel J., Self-calibrating, wide-range temperature sensor.
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Matsumoto, Toru; Mori, Yasuhiro, Semiconductor temperature detecting method and its circuit.
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Schnaitter, William N., System for on-chip temperature measurement in integrated circuits.
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Abatzoglou,Theagenis J., System, method and computer program product for reducing quadratic phase errors in synthetic aperture radar signals.
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John, Jay P.; Morgan, David G., Temperature sensor.
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특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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