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Method of evaluating characteristics of a light beam apparatus for evaluating the characteristics and apparatus for adjusting a write unit by employing the evaluation method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B41J-002/47
출원번호 US-0104386 (1998-06-25)
우선권정보 JP0176393 (1998-06-23)
발명자 / 주소
  • Ozaki Shinichi,JPX
  • Abe Katsushi,JPX
  • Takahashi Nobuhiro,JPX
출원인 / 주소
  • Ricoh Company, Ltd., JPX
대리인 / 주소
    Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 5

초록

At least two light beam detection units are spaced at a predetermined distance and provided in the scanning direction of a surface to be scanned. A light beam is emitted to the light beam detection unit provided on a scanning start side, by lighting a light beam source which is employed to scan the

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A light beam characteristic evaluation method comprising the steps of:providing at least two light beam detection means spaced at a predetermined distance in a scanning direction of a surface to be scanned, including a first light beam detection means provided on a scan

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Uemura Hideaki (Tokyo JPX) Tobo Yozo (Yokohama JPX) Ichikawa Fumio (Kamakura JPX) Kato Masatoshi (Yokohama JPX), Inspection/adjustment method and apparatus for laser beam output optical unit and laser scanning optical system.
  2. Arends Thomas C. (Eugene OR) Colley James E. (Eugene OR) Loris Blaine F. (Eugene OR) Peterson Donald S. (Philomath OR) Ring James W. (Eugene OR) Schler Matt D. (Eugene OR), Optical processing system.
  3. Sekikawa Yoshihito,JPX, Optical scanning apparatus.
  4. Goddard Joan S. (Boulder CO) Overby Wayne A. (Longmont CO) Valent James A. (Longmont CO), Pel placement correction in the scan dimension of a multiple beam laser scanning system.
  5. Fantuzzo Joseph (Webster NY) Robson Thomas (Penfield NY), Raster scanner including scanning beam tilt correction.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Ueda, Takeshi, Apparatus for optical scanning along with measurement of optical characteristics within scanning region.
  2. Fujino,Hitoshi, Color image forming apparatus having scanning lens disposed in reverse orientation.
  3. Yoshikawa, Hiroshi; Kamijo, Naohiro; Kamada, Teruki; Takada, Masato, METHOD FOR MEASURING SCAN BEAM LIGHT QUANTITY DISTRIBUTION IN SCAN OPTICAL SYSTEM, MEASUREMENT APPARATUS THEREOF, MEASUREMENT EVALUATION APPARATUS THEREOF, AND IMAGE FORMATION APPARATUS USING THE MEA.
  4. Sparkes,Martin Roy; O'Neill,William, Method and apparatus for monitoring light beams.
  5. Ream,Gregory Lawrence; Schneider,David Anthony; Ward, II,Earl Dawson, Method of margin alignment and plane-to-plane registration in a tandem color electrophotographic machine.
  6. Ream,Gregory Lawrence; Schneider,David Anthony; Ward, II,Earl Dawson, Method of margin alignment and plane-to-plane registration in a tandem color electrophotographic machine.
  7. Okuwaki, Hiroyuki; Naoe, Yasuhiro; Hirai, Ryouji; Ozaki, Shinichi; Ando, Jun, Optical scanner and image forming apparatus.
  8. Andoh, Fumikata; Ozaki, Shinichi, Optical scanning apparatus and its optical element, method and apparatus for positioning and fixing the optical element, and a molding tool for making the optical element.
  9. Andoh,Fumikata; Ozaki,Shinichi, Optical scanning apparatus and its optical element, method and apparatus for positioning and fixing the optical element, and a molding tool for making the optical element.
  10. Fujino, Hitoshi; Nakamura, Yoshifumi; Ominato, Hiroyuki; Yukawa, Hiroki, Scanning optical apparatus.
  11. Chee,Christopher G., Scanning system with feedback for a MEMS oscillating scanner.
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