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Apparatus for drying and cleaning objects using controlled aerosols and gases 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B08B-003/04
출원번호 US-0417203 (1999-10-11)
발명자 / 주소
  • Ferrell Gary W.
  • Spencer Thomas D.
  • Carter Rob E.
대리인 / 주소
    Gens
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 7

초록

Method and apparatus for cleaning and/or drying objects that may have been wetted or contaminated in a manufacturing process. The objects are submerged in a rinse liquid in an enclosed chamber, and aerosol particles from a selected liquid are introduced into the chamber above the rinse liquid surfac

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. Apparatus for drying and cleaning an object, the apparatus comprising:an enclosed chamber that receives and contains a selected object to be cleaned and dried, the enclosed chamber having an openable entryway that allows the selected object to be placed into, and to be

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Carter Robert E. (Auburndale MA) Murphy Donald R. (Wellesley MA), Aerosol dispenser.
  2. Ferrell Gary W. (608 Terrace Ave. Half Moon Bay CA 94019), Method and apparatus for drying objects using aerosols.
  3. Ferrell Gary W. (608 Terrace Ave. Half Moon Bay CA 94019), Method and apparatus for drying parts and microelectronic components using sonic created mist.
  4. Ferrell Gary W., Method for removing chemical residues from a surface.
  5. Ferrell Gary W. ; Spencer Thomas D., Methods for drying and cleaning objects using aerosols.
  6. Ferrell Gary W. ; Spencer Thomas D. ; Carter Rob E., Methods for drying and cleaning of objects using aerosols and inert gases.
  7. Igusa Masaru (Takasaki JPX) Kurosawa Hironobu (Isesaki JPX), Sterilizing apparatus utilizing ultrasonic vibration.

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Freer, Erik M.; de Larios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C.; Thomas, Clint; Parks, John, Apparatus and system for cleaning a substrate.
  2. de Larios,John M.; Owczarz,Aleksander; Schoepp,Alan; Redeker,Fritz, Apparatuses and methods for cleaning a substrate.
  3. Yin, Yaobo; Jiang, Linda (Tong), Megasonic precision cleaning of semiconductor process equipment components and parts.
  4. Freer, Erik M.; deLarios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C., Method and apparatus for cleaning a semiconductor substrate.
  5. Freer, Erik M.; deLarios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C., Method and apparatus for cleaning a semiconductor substrate.
  6. de Larios, John M.; Ravkin, Mike; Farber, Jeffrey; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C., Method and apparatus for cleaning a substrate using non-Newtonian fluids.
  7. de Larios, John M.; Ravkin, Mike; Farber, Jeffrey; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C., Method and apparatus for cleaning a substrate using non-newtonian fluids.
  8. Boyd, John M.; deLarios, John; Woods, Carl, Method and apparatus for cooling a resonator of a megasonic transducer.
  9. Zhu, Ji; Mendiratta, Arjun; Mui, David, Method and apparatus for removing contaminants from substrate.
  10. Freer, Erik M.; de Larios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C.; Thomas, Clint; Parks, John, Method and apparatus for removing contamination from substrate.
  11. de Larios,John M.; Ravkin,Mike; Parks,John; Korolik,Mikhail; Redeker,Fred C., Method and apparatus for transporting a substrate using non-Newtonian fluid.
  12. Freer, Erik M.; de Larios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Redeker, Fred C., Method and material for cleaning a substrate.
  13. Korolik, Mikhail; Freer, Erik M.; de Larios, John M.; Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Mike; Redeker, Fritz, Method and system for using a two-phases substrate cleaning compound.
  14. Korolik, Mikhail; Ravkin, Michael; deLarios, John; Redeker, Fritz C.; Boyd, John M., Method for removing material from semiconductor wafer and apparatus for performing the same.
  15. Mikhaylichenko, Katrina; Ravkin, Mike; Redeker, Fritz; de Larios, John M.; Freer, Erik M.; Korolik, Mikhail, Methods for contained chemical surface treatment.
  16. Ono,Yuji; Ohkura,Ryoichi, Single wafer type substrate cleaning method and apparatus.
  17. Sato, Masanobu; Hirae, Sadao; Yasuda, Shuichi; Morinishi, Kenya, Substrate cleaning apparatus.
  18. Sato, Masanobu; Hirae, Sadao; Yasuda, Shuichi; Morinishi, Kenya, Substrate cleaning apparatus.
  19. Freer, Erik M.; de Larios, John M.; Ravkin, Michael; Korolik, Mikhail; Mikhaylichenko, Katrina; Redeker, Fritz C., Substrate preparation using stabilized fluid solutions and methods for making stable fluid solutions.
  20. Nishimura, Hideki; Nakashima, Mikio, Substrate processing method, and program storage medium therefor.
  21. Nishimura, Hideki; Nakashima, Mikio, Substrate processing method, substrate processing apparatus, and program storage medium.
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