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Fabrication of defect free III-nitride materials 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/20
출원번호 US-0369535 (1999-08-06)
발명자 / 주소
  • Razeghi Manijeh
  • Kung Patrick
출원인 / 주소
  • MP Technologies
대리인 / 주소
    Welsh & Katz, Ltd.
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 1

초록

The subject invention involves a method of preparing defect-free semiconductor material layers by growing a semiconductor material buffer layer on a substrate, masking with a dielectric film, and etching to open spaced seed windows. Another layer of a III-V or II-VI material is then grown in the lon

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A method of preparing a semiconductor wafer, comprising the steps of:growing a buffer layer on a substrate;growing a barrier layer on said buffer layer;etching a pattern of openings in said barrier layer;growing a III-V material in the openings in a longitudinal directi

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Bozler Carl O. (Sudbury MA) Fan John C.C. (Chestnut Hill MA) McClelland Robert W. (Norwell MA), Method of producing sheets of crystalline material and devices made therefrom.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Shibata,Tomohiko; Asai,Keiichiro; Tanaka,Mitsuhiro, Apparatus for fabricating a III-V nitride film and a method for fabricating the same.
  2. Shibata,Tomohiko; Asai,Keiichiro; Tanaka,Mitsuhiro, Apparatus for fabricating a III-V nitride film and a method for fabricating the same.
  3. Sarayama, Seiji; Shimada, Masahiko; Yamane, Hisanori; Aoki, Masato, Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group III nitride semiconductor device.
  4. Sarayama, Seiji; Shimada, Masahiko; Yamane, Hisanori; Aoki, Masato, Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group-III nitride semiconductor device.
  5. Imer,Bilge M.; Speck,James S.; DenBaars,Steven P., Defect reduction of non-polar and semi-polar III-Nitrides with sidewall lateral epitaxial overgrowth (SLEO).
  6. Craven, Michael D.; Denbaars, Steven P.; Speck, James S.; Nakamura, Shuji, Dislocation reduction in non-polar III-nitride thin films.
  7. Tang, Haipeng; Webb, James B.; Bardwell, Jennifer A., GaN selective growth on SiC substrates by ammonia-source MBE.
  8. Hino, Tomonori; Asano, Takeharu; Asatsuma, Tsunenori; Kijima, Satoru; Funato, Kenji; Tomiya, Shigetaka, Growth method of a nitride III-V compound semiconductor, manufacturing method of a semiconductor device, and semiconductor device.
  9. Chai,Bruce H. T.; Gallagher,John Joseph; Hill,David Wayne, Method for making Group III nitride devices and devices produced thereby.
  10. Maruska,Herbert Paul; Gallagher,John Joseph; Chou,Mitch M. C.; Hill,David W., Method for making free-standing AIGaN wafer, wafer produced thereby, and associated methods and devices using the wafer.
  11. Maruska, Herbert Paul; Gallagher, John Joseph; Chou, Mitch M. C.; Hill, David W., Method for making free-standing AlGaN wafer, wafer produced thereby, and associated methods and devices using the wafer.
  12. Paek, Ho Sun; Lee, Sung Nam; Lee, Jeong Wook; Jung, Il Hyung; Sung, Youn Joon, Method of growing nitride single crystal and method of manufacturing nitride semiconductor light emitting device.
  13. Morita,Etsuo, Method of manufacturing crystal of III-V compound of the nitride system, crystal substrate of III-V compound of the nitride system, crystal film of III-V compound of the nitride system, and method of manufacturing device.
  14. Craven, Michael D.; Keller, Stacia; DenBaars, Steven P.; Margalith, Tal; Speck, James S.; Nakamura, Shuji; Mishra, Umesh K., Non-polar (Al,B,In,Ga)N quantum well and heterostructure materials and devices.
  15. Craven, Michael D.; Keller, Stacia; Denbaars, Steven P.; Margalith, Tal; Speck, James Stephen; Nakamura, Shuji; Mishra, Umesh K., Non-polar (Al,B,In,Ga)N quantum well and heterostructure materials and devices.
  16. Craven, Michael D.; Speck, James Stephen, Non-polar gallium nitride thin films grown by metalorganic chemical vapor deposition.
  17. Shenai Khatkhate,Deodatta Vinayak; Woelk,Egbert, Organometallic compounds.
  18. Jin,Been Yih; Doyle,Brian S.; Hareland,Scott A.; Doczy,Mark L.; Metz,Matthew V.; Boyanov,Boyan I.; Datta,Suman; Kavalieros,Jack T.; Chau,Robert S., Semiconductor channel on insulator structure.
  19. Jin,Been Yih; Doyle,Brian S.; Hareland,Scott A.; Doczy,Mark L.; Metz,Matthew V.; Boyanov,Boyan I.; Datta,Suman; Kavalieros,Jack T.; Chau,Robert S., Semiconductor channel on insulator structure.
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