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Temperature dependent circuit, and current generating circuit, inverter and oscillation circuit using the same 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05F-003/26
출원번호 US-0659979 (1996-06-07)
우선권정보 JP0121606 (1996-05-16)
발명자 / 주소
  • Ooishi Tsukasa,JPX
출원인 / 주소
  • Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, JPX
대리인 / 주소
    McDermott, Will & Emery
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 8

초록

Constant current is generated by a constant current generating circuit. This constant current is divided by a current dividing circuit, and current having temperature dependency is generated by a temperature dependent circuit based on the constant current. This current and the divided current are ad

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A circuit for generating a current having temperature dependency, comprising:current providing means for providing current based on generated constant current converted in accordance with a preset fixed ratio;temperature dependent current producing means for producing c

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Gillingham, Peter B., Bandgap voltage generator.
  2. Prentice John S. (Palm Bay FL), Circuit for trimming FET differential pair offset voltage without increasing the offset voltage temperature coefficient.
  3. Moody Paul T. (Oldham GBX), Current limited temperature responsive circuit.
  4. Davis William F. (Tempe AZ), Current mirror circuit and method for providing zero temperature coefficient trimmable current ratios.
  5. Nahas Joseph J. (Austin TX), Low voltage reference circuit and method of operation.
  6. Rosenthal Bruce D. (Los Gatos CA), Low-voltage, temperature compensated constant current and voltage reference circuit.
  7. Gross Eric (Colorado Springs CO), Reference voltage generation method and apparatus.
  8. Chen Kou-Su (Fremont CA), Temperature self-compensated time delay circuits.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Ono, Fuminobu; Nishimura, Yoshikazu, Active bias circuit having Wilson and Widlar configurations.
  2. Lin,Feng, Circuits and methods of temperature compensation for refresh oscillator.
  3. Lin,Feng, Circuits and methods of temperature compensation for refresh oscillator.
  4. Lin,Feng, Circuits and methods of temperature compensation for refresh oscillator.
  5. Umeyama, Takehiko; Ohmi, Kazuyuki, Device for measuring temperature of semiconductor integrated circuit.
  6. Behzad, Arya Reza, High temperature coefficient MOS bias generation circuit.
  7. Li, Xuening, Modified Brokaw cell-based circuit for generating output current that varies linearly with temperature.
  8. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  9. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  10. Bazes, Mel, Phase-locked loop runaway detector.
  11. Lee,Jong Chern, Self refresh oscillator.
  12. Yamauchi, Tadaaki; Okamoto, Takeo; Matsumoto, Junko, Semiconductor device.
  13. Wan, Jun; Holloway, Peter R.; Sheehan, Gary E., Synchronized delta-VBE measurement system.
  14. Ooishi, Tsukasa, Thin film magnetic memory device with memory cell having magnetic tunnel junction.
  15. Mori, Shigenori, Very small current generating circuit.
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