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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0358031 (1999-07-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 38 인용 특허 : 5 |
A method of evaluating an electrochemical cell for a metallic contaminant-caused defect. The electrochemical cell is configured for use with an implantable medical device and includes an anode, a solid cathode and a liquid electrolyte. The method includes storing the cell at an elevated temperature
[ What is claimed is:] [1.]1. A method of identifying a defective electrochemical cell after assembly, said cell having an anode, a solid cathode and a liquid electrolyte, comprising the steps of:storing the cell without burn-in at an elevated temperature for a storage time;testing the cell at the e
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