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Temperature control system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05B-001/02
  • H01L-043/00
출원번호 US-0291658 (1999-03-31)
발명자 / 주소
  • Duchatelet Roland,BEX
  • Hiligsmann Vincent,BEX
  • Diels Roger,BEX
출원인 / 주소
  • Melexis NV, BEX
대리인 / 주소
    Townsend and Townsend and Crew LLP
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 24

초록

A temperature control system includes an integrated circuit that combines magnetic sensitive elements and infrared sensors to detect user temperature settings and measure temperature, respectively. Integration of the various sensors results in a very cost-effective and reliable temperature control s

대표청구항

[ What we claim is:] [1.]1. An integrated circuit fabricated on a silicon substrate comprising:a plurality of magnetic sensitive elements;position sensing circuit coupled to said plurality of magnetic sensitive elements, and configured to detect a relative position of an external magnet with respect

이 특허에 인용된 특허 (24)

  1. Henderson G. Douglas (Orlando FL), Apparatus for heating and cooling devices under test.
  2. Wernicki Paul F. (4501 NE. 21 Ave. ; #308 Fort Lauderdale FL 33308), Combination ice mold and ice extractor.
  3. Horiuchi Akinori (Tokyo JPX) Binnaka Toshio (Kawasaki JPX) Maruyama Shigeyuki (Yokohama JPX), Device for testing semiconductor devices at a high temperature.
  4. Jenner Frank H. (Hertfordshire GBX) White Ricki E. (Bedfordshire GBX) Thompson Patrick C. (Hertfordshire GBX), Electrical interface arrangement.
  5. Demand Erhart E. (Boston MA), Electrical testing system including plastic window test chamber and method of using same.
  6. Santomango Anthony (West Peabody MA) Hatheway ; Jr. Nicholas N. (Newbury MA), Electronic burn-in system.
  7. Leach Paul W. (East Orange NJ), Environmental hood for testing printed circuit cards.
  8. Biard James R. (Richardson TX), Hall effect device formed in an epitaxial layer of silicon for sensing magnetic fields parallel to the epitaxial layer.
  9. Jaffe Wolfgang (Roselle Park NJ) Rogan Bruce R. (Somerville NJ), Hall effect potentiometer.
  10. Suzuki Shinichi (Yamanashi JPX) Mochizuki Masami (Yamanashi JPX) Suemitsu Takashi (Yamanashi JPX), Hall element with improved composite substrate.
  11. Beitner ; Shlomo, Hand case.
  12. Swiatosz Edmund (Maitland FL), Integrated circuit temperature gradient and moisture regulator.
  13. Thayer Peter A. (Indianapolis IN) Murphy Morgan D. (Kokomo IN), Method and apparatus for calibration of comfort control IR sensor.
  14. Porter Warren W. (Escondido CA) Lauffer Donald K. (San Diego CA), Method and apparatus for low temperature integrated circuit chip testing and operation.
  15. Hollman Kenneth F. (Carson City NV), Method and apparatus for low temperature testing of electronic components.
  16. Spychalski Robert A. (Michigan City IN), Railway hopper car door lock.
  17. Eager George (Cambridge MA) Selverstone Pater (Cambridge MA), Temperature control for device under test.
  18. Burton David P. (Parteen IEX) Dillon Paul A. (Foxrock IEX) Stephenson Malcolm I. (Adare IEX), Temperature control instrument for electronic components under test.
  19. Flatley Robert (Ashland MA) Hobson David (Waltham MA), Test fixture for tab circuits and devices.
  20. Meeker Robert G. (Wappingers Falls NY) Scanlon William J. (Hopewell Junction NY) Segal Zvi (Wappingers Falls NY), Test fixture for use in a high speed electronic semiconductor chip test system.
  21. Jones David E. (16533 Grove Creek Cir. Pecatonica IL 61063), Thermo-electric temperature controller for liquid chemical bubbler containers.
  22. Perchak Robert M. (Dayton OH), Thermoelectric (peltier effect) hot/cold socket for packaged I.C. microprobing.
  23. Richard David A. (San Diego CA), Thermoelectric heating and cooling apparatus.
  24. Trachtenberg Leonard (512 Pleasant Valley Rd. West Orange NJ 07052) Trachtenberg Peter W. (P.O. Box 505 R.D. #2 Branchville NJ 07826), Vehicle thermoelectric cooling and heating food and drink appliance.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Olsen, Douglas S.; Stura, David, Apparatus and method for controlling temperature in a device under test using integrated temperature sensitive diode.
  2. Olsen, Douglas S.; Stura, David, Apparatus and method for controlling temperature in a wafer using integrated temperature sensitive diode.
  3. Engler, Kevin J.; Moyer, Thomas M.; Ottens, Gregory J.; Giuffre, Thomas R., Magnetically sensed thermostat control.
  4. Roland Duchatelet BE; Vincent Hiligsmann BE; Roger Diels BE, Temperature control system.
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