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Method for determining element contents using wave dispersive and energy dispersive x-ray fluorescence analysis 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/223
출원번호 US-0374070 (1999-08-12)
우선권정보 FI0001810 (1998-08-24)
발명자 / 주소
  • von Alfthan Christian,FIX
출원인 / 주소
  • Outokumpu Oyj, FIX
대리인 / 주소
    Smith-Hill and Bendell
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 4

초록

The invention relates to a method for defining element contents contained by solid, liquid or slurry-like materials by means of an X-ray fluorescence method in an online analysis. According to the invention a combination of both the energy dispersive (3) and wave dispersive (2) X-ray fluorescence me

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A method of determining presence of elements in a solid, liquid or slurry-like material in on-line analysis by an X-ray fluorescence method, comprising:employing the energy dispersive method to measure diffraction lines that are widely spaced from each other and employi

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Ciccarelli Michael F. (Troy NY) Goehner Raymond P. (Clifton Park NY), Combined x-ray diffraction and fluorescence spectroscopy apparatus with environmentally controllable chamber.
  2. Komatsu Fumio (Fuchu JPX) Miyazaki Kunihiro (Tokyo JPX) Shimazaki Ayako (Yokohama JPX), Contaminating-element analyzing method.
  3. Nagatsuka Yoshitaka (Tokyo JPX) Ohtsuki Masayuki (Tokyo JPX) Saito Masaki (Tokyo JPX) Yoshida Koji (Tokyo JPX) Kawabe Kazuyasu (Tokyo JPX), Electron probe microanalyzer having wavelength-dispersive x-ray spectrometer and energy-dispersive x-ray spectrometer.
  4. Komatsu Fumio (Fuchu JPX) Miyazaki Kunihiro (Tokyo JPX) Shimazaki Ayako (Yokohama JPX), Element analyzing method.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Wilson, Bary W.; Peters, Timothy J.; Shepard, Chester L.; Reeves, James H., Apparatus and method for fluid analysis.
  2. Wilson, Bary W.; Peters, Timothy J.; Shepard, Chester L.; Reeves, James H., Apparatus and method for fluid analysis.
  3. Shepard, Chester L.; Wilson, Bary W.; Kirihara, Leslie J.; Munley, John T.; Reeves, James H., Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis.
  4. Wilson,Bary, Component specific machine wear determination with x-ray fluorescence spectrometry.
  5. Wilson, Bary W.; Shepard, Chester L., Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis.
  6. Uda,Masayuki, Energy dispersion type X-ray diffraction/spectral device.
  7. Alexander Henrich DE; Hans-Helmut Itzel DE; Peter Hoffmann DE; Hugo Ortner DE, Energy dispersion x-ray fluorescence analysis of chemical subtances.
  8. Chen,Zewu; Gibson,Walter M., Portable and on-line arsenic analyzer for drinking water.
  9. Hegeman, Petronella Emerentiana; Brons, Gustaaf Christian; Komelkov, Aleksandr; Vrebos, Bruno A. R.; Van Den Hoogenhof, Waltherus; Zarkadas, Charalampos, Quantitative X-ray analysis—multi optical path instrument.
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