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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0481835 (2000-01-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 5 |
A point-contact impact method used in the Standard Penetration Test (SPT) is disclosed. The method aims firstly to have the impact between the drop hammer and the anvil in the form of point contact and secondly to center the impact contact on the anvil face, such that the efficiency and the consiste
[ What is claimed is:] [1.]1. A point-contact impact method used in the Standard Penetration Test (SPT), the method comprising the steps of:free falling a drop hammer to an anvil having an anvil face;forming the impact between the hammer and the anvil in the form of point contact; andcentering the i
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