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Device for temperature measurement 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-001/00
  • G01J-005/02
출원번호 US-0766449 (2001-01-19)
우선권정보 DE9528590 (1995-08-03)
발명자 / 주소
  • Schmidt Volker,DEX
  • Menchine William
  • Rostalski Hans-Jurgen,DEX
  • Wyrowski Frank,DEX
출원인 / 주소
  • Raytek GmbH, DEX
대리인 / 주소
    Townsend and Townsend and Crew LLP
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 14

초록

The invention relates to a device for temperature measurement. The heat radiation emanating from a measurement spot on an object of measurement is imaged by an optical system onto a detector. A sighting arrangement is also provided which has a diffractive optical system by which a light intensity di

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. Device for temperature measurement comprising:a) a detector for receiving heat radiation (3) emanating from a measurement spot on an object of measurement;b) an optical system for imaging the heat radiation emanating from the measurement spot onto the detector;c) and a

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Litvin Timothy J. ; Briars Ronald P., Aiming adjustment technique for a dual light source aiming mechanism of an infrared heat sensor.
  2. Rger Roderich (Munich DEX), Aiming or sighting apparatus with synchronously rotating thermal imager and aiming head.
  3. Litvin Timothy J. (Santa Cruz CA) Briars Ronald P. (Campbell CA), Dual light source aiming mechanism and improved actuation system for hand-held temperature measuring unit.
  4. Bellifemine Francesco,ITX ; Rudi Vincenzo,ITX, Infrared thermometer comprising optical aiming system.
  5. Nguyen Phan, Laser and scope aiming mechanism for a hand-held temperature measuring unit.
  6. Crabtree Allen E. (1001 Bridgeway ; #139 Sausalito CA 94965), Laser light show device and method.
  7. Hollander Milton B. (One Arbor Rd. Stamford CT 06903) McKinley W. Earl (77 Knox Rd. Stamford CT 06907), Method and apparatus for measuring temperature using infared techniques.
  8. Hollander Milton B. (Stamford CT) McKinley W. Earl (Stamford CT), Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques.
  9. Hollander Milton B. ; McKinley W. Earl, Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques.
  10. Aoyama Satoshi,JPX ; Banno Takashi,JPX ; Kusatsugu Tatsuaki,JPX ; Kitagawa Eiji,JPX, Projector and a measuring device provided with the same.
  11. Nomura Toshiyuki (Kyoto JPX) Osuga Naohiro (Takatsuki JPX) Tsujioka Yuiji (Kyoto JPX) Matsumoto Naoyuki (Kyoto JPX), Radiant thermometer with aiming system.
  12. Bartosiak George (Naperville IL) Paris Sam (Chicago IL) Kresch Jeffrey M. (Gurnee IL) Danley William J. (Highland Park IL) Kalley Eugene F. (St. Charles IL) Goldberg Arthur E. (Evanston IL), Scanning infrared temperature sensor with sighting apparatus.
  13. Darringer Richard E. (Fullerton CA) Scharf Wayne L. (Silverado CA) Haggerty James S. (Mission Viejo CA), Targeted infrared thermometer.
  14. Pompei Francesco (Wayland MA) Daya Shiraz (Franklin MA) Pompei Domenico A. (Wayland MA), Variable field of view heat scanner.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Tanner, William F.; Weissfloch, Marc C., Apparatus for aiding manual, mechanical alignment of optical equipment.
  2. Shen, Jialin; Steinberger, Jurgen, Device and process for sintering a powder with a laser beam.
  3. Bellifemine, Francesco, Infrared thermometer.
  4. Bellifemine, Francesco, Infrared thermometer.
  5. Hollander, Milton Bernard; Baghai, Shahin, Infrared thermometers.
  6. Hollander, Milton Bernard; McKinley, William Earl, Laser thermometer.
  7. Hollander, Milton Bernard; McKinley, William Earl, Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques.
  8. Gotz,Meinrad; Zahn,Patrick; Derr,Andreas; Rosenstiel,Herbert; Haury,Uwe; Schworer,Wolfgang; Richter,Axel; Baecke,Martin, Radiometer, sighting device for a radiometer and method therefor.
  9. Werner, Nathan Philip, Sighting apparatus for use with a firearm that discharges ammunition having multiple projectiles.
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