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Surface-tracking measuring machine

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-007/28
  • G01B-007/34
  • G01B-021/20
  • G01B-021/30
출원번호 US-0383990 (1999-08-26)
우선권정보 JP0248421 (1998-09-02)
발명자 / 주소
  • Yamamoto Takeshi,JPX
  • Akaike Takenori,JPX
출원인 / 주소
  • Mitutoyo Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Oliff & Berridge, PLC
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 7

초록

A surface-tracking measuring machine is provided, in which measurement range is enlarged while keeping a measuring force, responsivity, resolution thereof. For the object, the surface-tracking measuring machine has a frame (10), a probe (11) swingably supported by the frame (10) and having a tracer

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A surface-tracking measuring machine, comprising:a main body movable relative to a workpiece;a probe displaccably supported by the main body and having a tracer at an end thereof;a measuring force controller for controlling a measuring force applied to the probe;a displ

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Schnell Axel (Aachen DEX) Oepen Heinrich (Stolberg DEX), Arrangement for measuring surface profiles.
  2. Eaton Steven G. ; Kudinar Rusmin ; Wheeler William R., Constant-force profilometer with stylus-stabilizing sensor assembly, dual-view optics, and temperature drift compensatio.
  3. Noguchi Hironori (Tokyo JPX), Contour measuring apparatus.
  4. Takeda ; Yasuo, Profile indicator.
  5. Wheeler William R. (Saratoga CA), Profilometer stylus assembly insensitive to vibration.
  6. Breitmeier Ulrich O. (Ettlingen DEX), Scanning head.
  7. Olasz Joseph S. (North Kingston RI) MacIndoe William C. (West Warwick RI), Surface finish, displacement and contour scanner.

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Dall'Aglio,Carlo; Ventura,Luciano, Apparatus for the linear dimension checking of mechanical pieces.
  2. Mitsuhashi,Tadashi, Contact-type displacement measuring apparatus.
  3. Liu, Qing; Li, Jun-Qi; Nakagawa, Takeo, Contour measuring probe.
  4. Girard, Claude, Device for measuring the surface state of a surface.
  5. Gass, Bruno W.; Avelar, Manuel L., Electronic measuring device.
  6. Yamamoto, Takeshi; Matsumiya, Sadayuki; Shimaoka, Atsushi; Hidaka, Kazuhiko; Miyazaki, Tomoyuki; Mori, Yasunori, Form measuring machine.
  7. Dall'Aglio,Carlo; Ventura,Luciano, Head and apparatus for the linear dimension checking of mechanical pieces.
  8. McMurtry, David R.; Weston, Nicholas J.; Dewar, Richard G.; Freeman, Matthew H., Interchangeable task module counterweight.
  9. Yamamoto, Takeshi; Shimaoka, Atsushi, Lever-type detector, stylus, and automatic stylus exchanger.
  10. Kubota, Kazuhiro, Measuring head.
  11. Takai,Nozomi, Measuring head.
  12. Hama, Nobuyuki; Okamoto, Ichirou; Tanada, Hideo, Measuring instrument.
  13. Takai,Nozomi; Oguri,Masaaki, Measuring method and measuring apparatus.
  14. Kishima, Yoshio; Otake, Masakazu, Method and apparatus for layered structure breaking strength estimation.
  15. Lucas, Barry N.; Hay, Jr., John C., Multidimensional contact mechanics measurement system.
  16. Yamamoto,Takeshi; Akaike,Takenori; Mieda,Katsuhiko, Scanning probe.
  17. Kusaka, Takao; Yoshimatsu, Nobuki; Yasuda, Susumu; Seki, Junichi, Scanning probe apparatus.
  18. Kusaka, Takao; Yoshimatsu, Nobuki; Yasuda, Susumu; Seki, Junichi, Scanning probe apparatus.
  19. Matsumoto,Takashi; Niino,Yasuo; Okita,Toshiyuki; Yamamoto,Yoshiji, Shape measuring instrument.
  20. Nakayama, Tatsuki, Surface texture measuring apparatus.
  21. Nakayama, Tatsuki; Doi, Futoshi, Surface texture measuring instrument.
  22. Regitz, Thilo, Tracer device.
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