$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Socket for electrical parts

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01R-011/22
출원번호 US-0345108 (1999-06-29)
우선권정보 JP0150195 (1999-05-28)
발명자 / 주소
  • Fukunaga Masami,JPX
  • Shimada Hideo,JPX
  • Ohhashi Yoshiyuki,JPX
출원인 / 주소
  • Enplas Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Fish & Richardson P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 5

초록

A socket for an electrical part comprises a socket body having a mount portion on which an electrical part having terminals is mounted, a number of contact pins to be contacted to or separated from the terminals of the electrical part and a movable plate disposed to the socket body to be movable per

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A socket for an electrical part comprising:a socket body having a mount portion on which an electrical part having terminals is mounted;a number of contact pins to be contacted to or separated from the terminals of the electrical part; anda movable plate disposed to the

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Kobayashi Masahiko (Sagamihara JPX), IC socket.
  2. Ikeya Kiyokazu,JPX, Socket apparatus for removably loading electric parts.
  3. Petersen Kurt H., Top load socket for ball grid array devices.
  4. Pfaff Wayne K. (309 Steeplechase Irving TX 75062), Zero insertion force mounting housings for electronic device packages.
  5. Wang Hsing-Sheng (Chungli TWX), Zero insertion force socket.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Miller,Wayne H., Arrangement for manual disengagement of a device interface board from a personal tester.
  2. Kunioka, Shuuji; Suzuki, Katsumi; Murakoshi, Eiichi, Cartridge for contact terminals and semiconductor device socket provided with the same.
  3. Kunioka, Shuuji; Suzuki, Katsumi; Murakoshi, Eiichi, Cartridge for contact terminals and semiconductor device socket provided with the same.
  4. Kunioka,Shuuji; Suzuki,Katsumi; Murakoshi,Eiichi, Cartridge for contact terminals and semiconductor device socket provided with the same.
  5. Hachuda, Osamu; Takayama, Naoaki; Maruyama, Ryoji, Contact pin and socket for electrical parts provided with contact pin.
  6. Sato, Masaru, Method of mounting and demounting a semiconductor device, device for mounting and demounting a semiconductor device using the same, and socket for a semiconductor device.
  7. Miyazaki, Hiroshi, Multiple contact test probe.
  8. Ujike,Ryo; Oikawa,Takahiro; Suzuki,Katsumi; Kobori,Eiji; Tsubota,Eisaku, Semiconductor device socket.
  9. Watanabe, Hideo, Semiconductor device socket.
  10. Watanabe,Hideo, Socket apparatus with actuation via pivotal motion.
  11. Hayakawa,Kenji, Socket for electrical parts.
  12. Hayakawa,Kenji, Socket for electrical parts.
  13. Sato,Masaru; Ujike,Ryo, Socket for semiconductor device.
  14. Sato,Masaru; Ujike,Ryo, Socket for semiconductor device.
  15. Sato,Masaru; Ujike,Ryo, Socket for semiconductor device.
  16. Sato,Masaru; Ujike,Ryo, Socket for semiconductor device.
  17. Uratsuji, Kazumi; Sato, Hideki, Socket for semiconductor device.
  18. Nakano,Tomohiro; Adachi,Kiyoshi; Kaneshige,Akira, Socket for semiconductor package.
  19. Kanesashi,Hokuto, Socket for testing electrical parts.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트