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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0389162 (1999-09-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 8 |
One embodiment of the invention involves a refractory layer formed over a substrate during rapid thermal processing in which ambient hydrogen is used in a thermal processing chamber. Rapid thermal processing may occur at a temperature approximately in the range of 350.degree. C. to approximately 550
[ We claim:] [1.]1. An apparatus comprising:a passivation layer disposed over a substrate;a pad disposed over the substrate and exposed through the passivation layer;an underbump metalization layer disposed over the passivation layer and the pad; anda refractory hydride layer formed from a portion o
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