[특허]Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board

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Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-027/26
출원번호	US-0484415 (2000-01-18)
우선권정보	JP0351587 (1999-12-10)
발명자 / 주소	Yamashita Munehiro,JPX
출원인 / 주소	Nidec-Read Corporation, JPX
대리인 / 주소	Smith Patent Office
인용정보	피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 7

초록 ▼

A testing apparatus and method for testing conductivity of electric pathways formed on a substrate, each pathway including a first wiring and a second wiring partially overlapping each other. The apparatus includes a first electric signal applier for applying a first electric signal having an electric parameter changing with time to an input portion of the first wiring, a first electrode facing a first portion of the second wiring, a second electrode facing a second portion of the second wiring, a second electric signal applier for applying to the second a electrode a second electric signal changing its electric parameter in the phase reverse to that of the first electric signal, and a monitor for monitoring the signal transmitted to the first electrode through its capacitive coupling.

대표청구항 ▼

[ What is claimed is:] [1.]1. A testing apparatus for testing conductivity of an electric pathway formed on a substrate, the pathway including a first wiring having an input portion, and a second wiring connected with the first wiring and arranged above the first wiring and at least partially overlapping the first wiring, the testing apparatus comprising:a first electric signal applier for applying a first electric signal to the input portion of the first wiring;a first electrode facing a first portion of the second wiring with a gap to be capacitively coupled therewith;a second electrode facing a second portion of the second wiring with a gap to be capacitively coupled therewith;a second electric signal applier for applying a second electric signal to the second electrode, the second electric signal changing its electric parameter in the phase reverse to that of the first electric signal; anda monitor connected to the first electrode for monitoring the signal transmitted to the first electrode through its capacitive coupling.

이 특허에 인용된 특허 (7)

Vranish John M. (Crofton MD), Capaciflector camera.
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Yamashita Munehiro,JPX, Circuit board inspection apparatus and method employing a rapidly changing electrical parameter signal.
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Soiferman Jacob (Winnipeg CAX), Contactless test method and system for testing printed circuit boards.
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Crook David T. (Loveland CO) Keirn Kevin W. (Loveland CO) Cilingiroglu Ugur (Istanbul TRX), Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package.
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Sheen Timothy W. (Brighton MA), Manufacturing defect analyzer with improved fault coverage.
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Lehmann Martin (Obere Farnbhlstrasse 1 5610 Wohlen CHX), Method and apparatus for leak testing a hollow body.
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Chiang Shinwu (Yorktown Heights NY) Curtis Huntington W. (Chelsea NY) Falls Arthur E. (Brookfield CT) Halperin Arnold (Peekskill NY) Karidis John P. (Ossining NY) Mackay John D. (Scarborough ME) Wong, System and method for testing and fault isolation of high density passive boards and substrates.
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이 특허를 인용한 특허 (3)

Yamaoka,Shuji; Ishioka,Shogo, Circuit pattern inspection apparatus, circuit pattern inspection method, and recording medium.
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Trümpler, Walter; Kohnle, Horst; Hinken, Reiner, Device for measuring an electrical current that flows through a strip conductor.
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Parker,Kenneth P., Test structure embedded in a shipping and handling cover for integrated circuit sockets and method for testing integrated circuit sockets and circuit assemblies utilizing same.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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