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System and method for performing bulge testing of films, coatings and/or layers

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-003/10
출원번호 US-0531474 (2000-03-20)
발명자 / 주소
  • Brown Stuart B.
  • Muhlstein Christopher L.
  • Lynch Kevin R.
  • Mlcak Richard
  • Furtado Correia Paulo Jorge
출원인 / 주소
  • Exponent, Inc.
대리인 / 주소
    Liniak, Berenato, Longacre & White
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 10

초록

A system and corresponding method for bulge testing films (e.g. thin films, coatings, layers, etc.) is provided, as well as membrane structures for use in bulge testing and improved methods of manufacturing same so that resulting membrane structures have substantially identical known geometric and r

대표청구항

[ We claim:] [1.]1. An apparatus for bulge testing films, the apparatus comprising:a mounting structure including an upper surface and a cavity defined therein;means for positioning a film to be bulge tested on said upper surface over top of said cavity;a laser triangulation transducer for measuring

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Kenny James (Baldwinsville NY), Apparatus for rupture testing metal films.
  2. Dutta Indranath (Marina CA) Lascurain David P. (North Charleston SC), Constant-depth scratch test for the quantification of interfacial shear strength at film-substrate interfaces.
  3. Lin Li (Wallingford PA) Johnson Melvin H. (Chadds Ford PA), Film testing.
  4. Pace Sal A. (Trenton NJ) Salama Simon S. (Newton PA), Laser induced acoustic generation for sonic modulus.
  5. Yamamoto Yasunori (Nagaokakyo JPX) Nishimura Tsukasa (Kyoto JPX), Measurement of interfacial strength of a composite material.
  6. Engel Jean (Bissen LUX), Method and apparatus for sidewall bulge and valley detection.
  7. Allen Mark G. (Boston MA) Senturia Stephen D. (Boston MA), Method and apparatus for the quantitative measurement of adhesion of thin films.
  8. Scheucher Peter (Kumberg ATX) Stummer Giselher (Kumberg ATX), Method and device for the detection and removal of bulges in continuous strips of material.
  9. Rogers John A. (Castle Rock CO) Nelson Keith A. (Newton MA), Optical measurements of stress in thin film materials.
  10. Lynch Kevin R. ; Mlack Richard ; Correia Paulo Jorge Furtado ; Brown Stuart B. ; Muhlstein Christopher L., System and method for performing bulge testing of films, coatings and/or layers.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Marcus, Michael A.; Kaltenbach, Thomas F.; Courtney, Duane M.; Lee, Jiann-Rong, Apparatus and method for measuring digital imager, package and wafer bow and deviation from flatness.
  2. Horning, Robert D., Bonding system having stress control.
  3. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property and bulge testing of materials libraries.
  4. Hajduk,Damian A.; Kolosov,Oleg, High throughput preparation and analysis of plastically shaped material samples.
  5. Lin,Li, Mechanical property measurement of thin films by micro plane-strain compression.
  6. Singh, Jay; Kutz, William, Method and apparatus for measuring container bulge.
  7. Piatt, Michael J.; Hix, Kenneth E.; Gelbart, Daniel, Micro-structured drying for inkjet printers.
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