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Surface form measurement 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/14
  • G01B-005/20
출원번호 US-0091035 (1999-01-20)
우선권정보 GBX, 19960613, 9612383
국제출원번호 PCT/GB96/03003 (1996-12-06)
§371/§102 date 19990120 (19990120)
국제공개번호 WO-9721076 (1997-06-12)
발명자 / 주소
  • Seddon Peter,GBX
  • Mills Michael,GBX
  • Scott Paul James,GBX
  • White Roy George,GBX
  • Whittle Derek Roger,GBX
출원인 / 주소
  • Taylor Hobson Limited, GBX
대리인 / 주소
    Lerner, David, Littenberg, Krumholz & Mentlik, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 29  인용 특허 : 8

초록

A nominally cylindrical surface of a workpiece is sensed by a stylus displaceable radially of an axis of rotation of the surface relative to a support column defining a reference datum so that the stylus follows the cylindrical surface at a given height along the surface. Relative rotation of the wo

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. A method of determining information relating to the form of a surface of an object such as a workpiece, which method comprises sensing the surface using sensing means displaceable relative to a reference datum so as to follow the surface, effecting relative rotation abo

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Siddall ; Graham John ; Garratt ; David, Measuring apparatus.
  2. Whitehouse ; David John, Measuring instrument.
  3. Ohtsuka Yukiharu,JPX ; Saruki Yoshio,JPX ; Moriya Yoshio,JPX, Measuring instrument, probe for the same, and measuring method.
  4. Barnaby Anthony B. (Markfield GB3), Metrological apparatus.
  5. Scott Paul James,GBX, Roundness measuring.
  6. Ishitoya Takao (Kanagawa JPX) Omori Yoshiyuki (Kure JPX) Kojima Tsukasa (Sapporo JPX), Roundness measuring apparatus.
  7. Bellwood Philip R. (Market Harborough GBX), Surface profile measurement of workpieces.
  8. Randolph ; Jr. James E. (Wilmington NC) Hemmerle R. David (Blue Ash OH), Tool point compensation for hardware displacement and inclination.

이 특허를 인용한 특허 (29)

  1. Hunter, Stephen Paul; McFarland, Geoffrey; Jonas, Kevyn Barry; Mamour, Khaled, Apparatus and method of measuring workpieces.
  2. Shin, Jung Cheol; Han, Yong Gu; Kim, Eun Hye; Han, Jung Yoon, Apparatus for measuring dimensions of spacer grid for nuclear fuel assemblies.
  3. Allen, John R., Diagnostic method for manufacturing processes.
  4. Haidler,John W.; Cooper,Robert A., Dimensional gage with hollow spindle.
  5. Walter, III, Mark McNinch; Freyenhagen, Jr., Edward Everett; Roblee, Jeffrey William, Edge treatment process.
  6. Matsumiya, Sadayuki; Hidaka, Kazuhiko, Form measuring instrument.
  7. Matsumiya, Sadayuki; Yoshioka, Susumu, Form measuring sensor and form measuring instrument.
  8. Bidwell, Steven T., Gage set for measuring inside and outside diameters of ring shaped parts.
  9. McMackin, Shaun P; Jaquillard, James H., Measurement of container wall thickness.
  10. Brueck, Guenter; Hollmann, Joerg; Wagner, Kevin, Mechanical centering apparatus and method.
  11. Ould, John, Method and apparatus for measuring a part.
  12. Smith, Stuart T.; Bauza, Marcin B.; Jain, Pavan; Woody, Shane C., Method and apparatus using a closed loop controlled actuator for surface profilometry.
  13. Smith, Stuart T.; Bauza, Marcin B.; Jain, Pavan; Woody, Shane C., Method and apparatus using a closed loop controlled actuator for surface profilometry.
  14. Seewig, Jörg, Method for determining a twist structure.
  15. Wimmer, Martin, Method for determining the axis of the rotary table in a coordinate measuring machine.
  16. Wegmann, Heinz, Method for determining the shape of a workpiece.
  17. Brost, Randolph C.; Strip, David R.; Wilson, Randall H., Method for machine tool and profilometer coordinate registration.
  18. Omori, Yoshiyuki; Miki, Shousei, Method of calibrating surface texture measurement device.
  19. Taylor, David William, Method of scanning.
  20. McMurtry,David Roberts, Method of scanning an object.
  21. Hediger, Hans, Monitoring device for position monitoring a robotic device and production system including a monitoring device.
  22. Mills, Michael, Movement control by a metrological instrument.
  23. Onodera, Youhei; Shindo, Hideki; Izumi, Naoki, Moving mechanism and form measuring apparatus.
  24. Shindo, Hideki; Omori, Yoshiyuki, Profile measuring instrument, adjusting method for profile measuring instrument, and profile measuring method.
  25. Hagino, Takeshi; Yokoyama, Yuichiro, Spherical-form measuring apparatus.
  26. Wallace, David Sven; Grzesiak, Jean-Louis, Surface sensor offset.
  27. Masuta, Hikaru, Surface shape measuring method, misalignment amount calculating method, and surface shape measuring device.
  28. Montgomery, Darcy Thomas, Two-way roundness device.
  29. Makiuchi, Akira; Kato, Ikuya; Goto, Keita; Somyo, Yoshihiro; Yabuki, Kenichi, Workpiece centering apparatus and workpiece centering method.
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