최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0735318 (2000-12-12) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 102 인용 특허 : 10 |
A chemical vapor deposition (CVD) process uses a precursor gas, such as with a siloxane or alkylsilane, and a carbon-dioxide-containing gas, such as CO2 with O2 or CO2 with CxH(2x+1)OH where 1.ltoreq.x.ltoreq.5, to deposit a dielectric layer with no photoresist "footing", a low dielectric constant,
1. A process for depositing a dielectric layer in a chemical vapor deposition (CVD) chamber, comprising:providing a semiconductor substrate in said CVD chamber; introducing a precursor gas into said CVD chamber; introducing a CO2-containing gas into said CVD chamber; and depositing said dielectric l
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.