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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0354925 (1999-07-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 11 |
An apparatus and method for preventing particulate matter and residue build-up within a vacuum exhaust line of a semiconductor-processing device. The apparatus includes a vessel chamber having an inlet, an outlet and a fluid conduit between the two that fluidly couples the outlet with the inlet. The
1. An apparatus for collecting particles exhausted from a substrate processing chamber, said apparatus comprising:a vessel chamber having an inlet, an outlet and a fluid conduit therebetween, said fluid conduit fluidly-coupling said outlet with said inlet and comprising first and second collection s
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