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Control circuit for thermal conductivity cell

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/18
출원번호 US-0772021 (2001-01-29)
발명자 / 주소
  • Peter M. Willis
출원인 / 주소
  • Leco Corporation
대리인 / 주소
    Price, Heneveld, Cooper, DeWitt & Litton
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 26

초록

A control circuit for a thermal conductivity cell employs a constant resistance bridge drive circuit which automatically adjusts to maintain a measurement filament at a constant resistance. A reference filament provides a differential signal representative of the concentration of an analyte. A detec

대표청구항

1. A thermal conductivity cell drive circuit for a thermal conductivity detection system employing a Wheatstone bridge, wherein said drive circuit comprises:a variable voltage source for coupling to the Wheatstone bridge having a reference filament and a measurement filament, said voltage source app

이 특허에 인용된 특허 (26)

  1. Kondo Toshio (Kariya JPX) Kobayashi Akio (Kariya JPX) Hiromasa Shunichiro (Okazaki JPX) Masuda Akira (Aichi JPX) Miyaki Masahiko (Oobu JPX), Apparatus for measuring a flow rate of intake air for an engine.
  2. Wiegleb Gerhard (Maintal DEX), Apparatus for measuring the thermal conductivity of gases.
  3. Hisanaga Tetsuo (Kanagawa JPX) Hatanaka Hiroshi (Kanagawa JPX), Bridge balancing circuit.
  4. Lehto Ari (Helsinki FIX), Calibration method for gas concentration measurements.
  5. Wei Sen-Jung (Hyattsville MD), Chopper amplifier for measuring low DC current.
  6. Bossart Clayton J. (Monroeville PA) Fatur Thomas C. (Delmont PA), Circuit for constant temperature operation of a catalytic combustible gas detector.
  7. Tozier, John E.; Anouchi, Abraham; Critchlow, Richard, Constant temperature catalytic gas detection instrument.
  8. Gatten Ronald A. (Placerville CA) Patterson Paul L. (Walnut Creek CA), Dynamic current drive method for powering thermal conductivity detectors.
  9. Anderson Daniel A. (Greensburg PA) Wojnar Ronald C. (Upper Burrell Township ; Westmoreland County PA) Warchol Mark F. A. (New Kensington PA), Filament drive circuit.
  10. Hosoya Toshiro (Tokyo JPX), Gas detecting and monitoring device.
  11. Yasuda Eturo (Okazaki JPX) Segawa Yoshihiro (Okazaki JPX) Ohta Minoru (Anjo JPX), Gas sensor.
  12. Gerhard Bruce (Canton MA) Schulman Bruce (Newton MA), Mass flow meter.
  13. de Bruin, Henderikus J.; Badwal, Sukhvinder P. S., Means for determining the partial pressure of oxygen in an atmosphere.
  14. Warchol Mark F. A. (New Kensington PA), Measurement of gas content in molten metal using a constant current source.
  15. Hachey Raynald (Shipshaw CAX) Lamarre Daniel (Duberger CAX) Marcotte Jacques (Jonquiere CAX), Method and apparatus for the measurement of the thermal conductivity of gases.
  16. Hachey Raynald (Shipshaw CAX) Lamarre Daniel (Duberger CAX) Marcotte Jacques (Jonquiere CAX), Method and apparatus for the measurement of the thermal conductivity of gases.
  17. Jackson Milton L. (Drawer 90,000 G Houston TX 77090), Multicomponent thermal conductivity analyzer.
  18. Blades Frederick K., NDIR instrument.
  19. Kolloff Richard H. (West Chester PA), Pulse modulated thermal conductivity detector.
  20. Bonne Ulrich (Hopkins MN) Matthys Robert J. (Minneapolis MN), Selective gas detecting apparatus.
  21. Willis Peter M. (Benton Harbor MI), Thermal conductivity cell.
  22. Lacey Richard F. (Palo Alto CA), Thermal conductivity detector.
  23. Maeda Masato (Tokyo JPX) Kawamura Shuzo (Tokyo JPX), Thermal conductivity detector.
  24. Farren Carl A. (Placentia CA) Crabtree James H. (Long Beach CA), Thermal conductivity detector assembly.
  25. Piesche Helfried (Owingen DT), Thermal conductivity detector circuit.
  26. Golay Marcel E. (La Conversion CHX), Thermally switchable katharometer.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Kryskowski, David, Infrared detector having at least one switch for modulation and/or bypass.
  2. Gellert, Udo; Probst, Frank, Method and arrangement for gas chromatographic analysis of a gas sample.
  3. Gianchandani,Yogesh B.; McNamara,Shamus P.; Lee,Joohyung; Basu,Amar, Micromachined arrayed thermal probe apparatus, system for thermal scanning a sample in a contact mode and cantilevered reference probe for use therein.
  4. Gianchandani, Yogesh B.; Li, Mo-Huang; Wu, Julius, Micromachined scanning thermal probe method and apparatus.
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