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Method and apparatus for investigating surfaces 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-019/02
  • G01N-037/00
출원번호 US-0485254 (2000-02-07)
우선권정보 GB-0016781 (1997-08-07)
국제출원번호 PCT/US98/16482 (1998-08-07)
§371/§102 date 20000207 (20000207)
국제공개번호 WO99/08093 (1999-02-18)
발명자 / 주소
  • Colin W. Brown
출원인 / 주소
  • S. C. Johnson & Son, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 10

초록

A process for comparing the dust retention properties of various treated and untreated hard surfaces, within a dust retaining enclosure, that includes subjecting the surfaces to be compared, previously coated with a standardized layer of dust, to a standardized dust dislodging force sufficient to di

대표청구항

1. A process for comparing dust retention properties of a first surface of a substrate with the dust retention properties of a second surface of a substrate that comprises, within a dust-retaining enclosure,(a) coating the first surface and the second surface with a standardized layer of dust, (b) c

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Kiplinger Dale V. (Carrollton TX), Air sampler.
  2. Burgdorfer Roger D. (Olathe KS), Air sampler for clean rooms.
  3. Nishiyama Hiroaki (Kawasaki JPX) Nakano Katsuyuki (Kawasaki JPX), Apparatus and a method for detecting the generation of dust particles and a clean room equipped with the apparatus.
  4. Chae Seung-ki (Kyungki-do KRX) Ahn Byung-seol (Kyungki-do KRX) Hahm Sang-kyu (Kyungki-do KRX) Kim Jong-soo (Kyungki-do KRX), Apparatus and method for depositing particles onto a wafer.
  5. Saiki Atsushi (Koganei JPX) Suzuki Michio (Hino JPX) Sunami Hideo (Nishitama JPX) Asai Shojiro (Tsukui JPX) Maki Michiyoshi (Hachioji JPX) Asami Kinichiro (Niiza JPX), Clean room.
  6. Yukimoto Sadao (Hyogo JPX) Hirose Toshifumi (Hyogo JPX) Wakabayashi Hiroshi (Hyogo JPX) Isayama Katsuhiko (Hyogo JPX), Curable composition.
  7. Miller Larry S. (Columbus OH) Lee Ken W. (Powell OH) Kohler Doyle F. (Columbus OH) Jones Randy (Delaware OH) Tuttle Richard (Columbus OH), Device and method for the simulation of samples of airborne substances.
  8. Staples Thomas L. ; DeVrieze Jerry D., Dust control of absorbent polymers.
  9. Swick Robert H. (New Castle DE) Sullivan Gene J. (LaFayette CA) Lutz Donald G. (San Ramon CA CA) Dryden Richard S. (San Jose CA), Method and device for quantifying particles on a surface.
  10. Pike Daniel E. (19 Jay St. Harrington Park NJ 07649), Procedure for the quantification of dust collectability.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Maleville, Christophe, Method for evaluating particle concentrations in a clean room or machine mini-environment.
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