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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0448525 (1999-11-23) |
우선권정보 | JP-0333309 (1998-11-24); JP-0275385 (1999-09-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 7 |
An electro-optical probe used for an oscilloscope (e.g., electro-optic sampling oscilloscope) is mainly constructed by a probe head and a probe unit. The probe head contains a metal pin and an electro-optical element having a reflector at its terminal surface. The probe unit contains a reduced numbe
1. A method of measuring a waveform of a measured signal using an electro-optical probe comprising:radiating laser beams from a laser diode; converging the laser beams with a converging lens incident to an electro-optical element whereby the converged laser beams are changed in polarization states u
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