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Electro-optical probe for oscilloscope measuring signal waveform 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/00
출원번호 US-0448525 (1999-11-23)
우선권정보 JP-0333309 (1998-11-24); JP-0275385 (1999-09-28)
발명자 / 주소
  • Akishige Ito JP
  • Katsushi Ohta JP
  • Toshiyuki Yagi JP
  • Mitsuru Shinagawa JP
  • Tadao Nagatsuma JP
  • Junzo Yamada JP
출원인 / 주소
  • Ando Electric Co., Ltd. JP
  • Nippon Telegraph and Telephone Corporation JP
대리인 / 주소
    Blakely, Sokoloff, Taylor & Zafman
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 7

초록

An electro-optical probe used for an oscilloscope (e.g., electro-optic sampling oscilloscope) is mainly constructed by a probe head and a probe unit. The probe head contains a metal pin and an electro-optical element having a reflector at its terminal surface. The probe unit contains a reduced numbe

대표청구항

1. A method of measuring a waveform of a measured signal using an electro-optical probe comprising:radiating laser beams from a laser diode; converging the laser beams with a converging lens incident to an electro-optical element whereby the converged laser beams are changed in polarization states u

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Mizutani Hideo (Yokohama JPX) Sato Isao (Tokyo JPX) Shibuya Masato (Kawasaki JPX), Apparatus for detecting the level of an object surface.
  2. Nees John A. (Rochester NY) Mourou Gerard A. (Rochester NY) Jackson Todd A. (Rochester NY), Electro-optic measurement (network analysis) system.
  3. De Kort Cornelis G. C. M. (Eindhoven NLX) Vrehen Joris J. (Eindhoven NLX) \t Hooft Gert W. (Eindhoven NLX), Electro-optic measurement device for the measurement of an electric signal in an electronic component.
  4. Chollet Pierre-Alain (Clamart FRX), Improved electro-optical crystal.
  5. Mourou Gerard (Rochester NY) Valdmanis Janis A. (Westfield NJ), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  6. Fujii Akira,JPX ; Sato Yoko,JPX ; Hama Soichi,JPX ; Ozaki Kazuyuki,JPX ; Goto Yoshiro,JPX ; Umehara Yasutoshi,JPX ; Ogiso Yoshiaki,JPX, Voltage and displacement measuring apparatus and probe.
  7. Takahashi, Hironori; Aoshima, Shinichiro; Tsuchiya, Yutaka, Voltage detecting device.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Cole,Bryan Edward, Probe apparatus and method for examining a sample.
  2. Lee, San-Liang; Yang, Chun-Liang, Simultaneous optical isolation and channel monitoring system.
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