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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0760402 (2001-01-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 10 |
Method and apparatus for etching a silicide stack including etching the silicide layer at a temperature elevated from that used to etch the rest of the layers in order to accomplish anisotropic etch.
1. An apparatus for processing a wafer comprising:a reactor chamber capable of generating a plasma; a chuck adapted for holding a wafer; a first gas delivery space adapted to accept a gas at a first pressure in order to control the transfer of heat between the wafer and the chuck; and a second gas d
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