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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0271819 (1999-03-18) |
우선권정보 | EP-0104932 (1998-03-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 9 |
The invention concerns a microwave level measuring device for measuring of material levels in containers, suitable for operation at extreme container conditions, comprising high temperatures, high pressures, and/or chemically aggressive substances.
1. A measuring device for measuring the level of a material contained within a container through a measurement opening in a wall thereof, comprising: a housing containing an electronics unit providing for the generation and sending of microwave signals and for receiving and measuring characteristics
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