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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0903559 (2001-07-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 22 |
A method and apparatus for improving etch uniformity in reticle etching by eliminating local effects at the edge of the reticle is disclosed. The present invention relates to a reticle frame which surrounds the reticle. The reticle frames are patterned with a pattern profile similar to that of the r
1. A patterned frame for holding a reticle to be plasma etched comprising;a body; an opening formed in said body for receiving a reticle therein such that the outer sides of the reticle are adjacent to the inner sides defining said opening of said frame; a holding member formed in a lower portion of
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