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Use of a chemically active reticle carrier for photomask etching 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05H-001/00
  • C23C-016/00
출원번호 US-0903559 (2001-07-13)
발명자 / 주소
  • Richard Stocks
  • Kevin Donohoe
출원인 / 주소
  • Micron Technology, Inc.
대리인 / 주소
    Dickstein Shapiro Morin & Oshinsky LLP
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 22

초록

A method and apparatus for improving etch uniformity in reticle etching by eliminating local effects at the edge of the reticle is disclosed. The present invention relates to a reticle frame which surrounds the reticle. The reticle frames are patterned with a pattern profile similar to that of the r

대표청구항

1. A patterned frame for holding a reticle to be plasma etched comprising;a body; an opening formed in said body for receiving a reticle therein such that the outer sides of the reticle are adjacent to the inner sides defining said opening of said frame; a holding member formed in a lower portion of

이 특허에 인용된 특허 (22)

  1. Ina Hideki (Kawasaki JPX) Kosugi Masao (Yokohama JPX) Suzuki Akiyoshi (Tokyo JPX), Alignment and exposure apparatus.
  2. Kirkpatrick, John, Apparatus and method for securely carrying a substrate.
  3. Rolfson J. Brett, Atom lithographic mask having diffraction grating aligned with primary mask pattern.
  4. Wagner, Alfred, Correction of lithographic masks.
  5. Moto Atsushi,JPX ; Suzuki Shinji,JPX, Heating device of the light irradiation type and holding device therefor.
  6. Ellis Ernest W., Mass transfer imaging media and methods of making and using the same.
  7. Baker Faye D. ; Brown Jeffrey S. ; Gauthier ; Jr. Robert J. ; Holmes Steven J. ; Leidy Robert K. ; Nowak Edward J. ; Voldman Steven H., Method and structure to reduce latch-up using edge implants.
  8. Scott David B. (Plano TX), Method for fabricating high density DRAM reticles.
  9. Hashimoto Kazuhiko (Osaka JPX) Endo Masayuki (Osaka JPX) Sasago Masaru (Osaka JPX), Method of producing a stencil mask.
  10. Lucas Kevin ; Kling Michael E. ; Roman Bernard J. ; Reich Alfred J., Methods of designing a reticle and forming a semiconductor device therewith.
  11. Schinella Richard (Saratoga CA) Chao Keith (San Jose CA), Optical corrective techniques with reticle formation and reticle stitching to provide design flexibility.
  12. Tanaka Shouji,JPX ; Nakajima Masao,JPX ; Toma Toshichika,JPX, Peripheral edge exposure method.
  13. Bae Sang Man,KRX, Phase shift mask and method for fabricating the same.
  14. Kalbitzer Siegfried (Heidelberg DEX), Photo-mask with regions having a differing optical transmissivities.
  15. Jang Syun-Ming,TWX ; Chang Jui-Yu,TWX ; Yu Chen-Hua,TWX ; Chang Chung-Long,TWX ; Shih Tsu,TWX ; Chen Jeng-Horng,TWX, Prevention of die loss to chemical mechanical polishing.
  16. Lucas Kevin D. ; Kling Michael E. ; Reich Alfred J. ; Fu Chong-Cheng ; Morrow James, Process for producing and inspecting a lithographic reticle and fabricating semiconductor devices using same.
  17. Nakazato Hiroshi (Ohme JPX) Iijima Mamoru (Yokohama JPX), Reticle cassette.
  18. Laganza Joseph ; Yap Hoon-Yeng ; Cruz Teodorico A. ; Magnussen Erik ; Dunning Craig S., Reticle container with corner holding.
  19. Kim Sung-wook,KRX, Reticle pre-alignment apparatus and method thereof.
  20. Yamauchi Takashi (Tokyo JPX), Substrate holding case.
  21. Sato Yuusuke (Tokyo JPX) Ohmine Toshimitsu (Tokyo JPX), Vapor-phase deposition apparatus and vapor-phase deposition method.
  22. Sato Yuusuke (Tokyo JPX) Ohmine Toshimitsu (Tokyo JPX), Vapor-phase deposition apparatus and vapor-phase deposition method.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Chen, Xiaoyi; Grimbergen, Michael; Chandrachood, Madhavi; Tran, Jeffrey X.; Kumar, Ajay; Tam, Simon; Krishnamurthy, Ramesh, Method for plasma etching a chromium layer suitable for photomask fabrication.
  2. Chandrachood, Madhavi R.; Sandlin, Nicole; Lee, Yung-Hee Yvette; Ding, Jian, Process for etching a metal layer suitable for use in photomask fabrication.
  3. Chandrachood, Madhavi R.; Sandlin, Nicole; Lee, Yung-Hee Yvette; Ding, Jian, Process for etching a metal layer suitable for use in photomask fabrication.
  4. Chandrachood, Madhavi R.; Sandlin, Nicole; Lee, Yung Hee Yvette; Ding, Jian, Process for etching photomasks.
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