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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0878625 (2001-06-11) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 122 인용 특허 : 207 |
The disclosed invention relates to measuring an ac dynamic parameter (e.g., impedance, admittance, resistance, reactance, conductance, susceptance) of an electrochemical cell/battery or other electrical element under conditions of possible interference from potential sources such as ac magnetic fiel
1. A method for evaluating a component of a signal at a measurement frequency while suppressing potential components at one or more interference frequencies comprising:sampling said signal M times per period of said measurement frequency for N said periods, said number N being an integral multiple o
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