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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0404990 (1999-09-22) |
우선권정보 | JP-0054810 (1995-03-14); JP-0066592 (1995-03-24); JP-0142456 (1995-05-18); JP-0121786 (1995-05-19); JP-0012369 (1996-01-29); JP-0012370 (1996-02-07); JP-0021273 (1996-02-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 2 |
In order to quickly and economically evaluate cleanliness of a metal with high representativity when quantities, compositions, etc., of non-metallic inclusion particles existing in a metal and resulting in product defects are evaluated by a sample collected during the production process of the metal
1. An evaluation method for cleanliness of a metal comprising the steps of:levitation-melting said metal for a predetermined time by using levitation-melting means, thereby providing a molten metal; discharging non-metallic inclusions contained in said metal to the surface of said molten metal; soli
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