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Hyperbaric hydrothermal atomic force microscope 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-013/16
출원번호 US-0366902 (1999-08-03)
발명자 / 주소
  • Kevin G. Knauss
  • Carl O. Boro
  • Steven R. Higgins
  • Carrick M. Eggleston
출원인 / 주소
  • The Regents of the University of California
대리인 / 주소
    L. E. Carnahan
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 5

초록

A hyperbaric hydrothermal atomic force microscope (AFM) is provided to image solid surfaces in fluids, either liquid or gas, at pressures greater than normal atmospheric pressure. The sample can be heated and its surface imaged in aqueous solution at temperatures greater than 100.degree. C. with les

대표청구항

1. An atomic force microscope for imaging a surface of a sample at a selected pressure greater than atmospheric pressure, comprising:a base chamber for containing a pressurized gas at the selected pressure; a sample cell operably connected to the base chamber and having a chamber for containing a pr

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Yang Jie (Charlottesville VA) Somlyo Andrew P. (Charlottesville VA) Siao Zhiferg (Charlottesville VA) Mou Jianxun (Charlottesville VA), Cryogenic atomic force microscope.
  2. Kokawa Ryohei (Hadano) Nishikawa Osamu (Tokyo) Tomitori Masahiko (Yokohama JPX), Environment controllable scanning probe microscope.
  3. Gamble Ronald C. (Altadena CA) West Paul G. (Cupertino CA), Scanning force microscope with integrated optics and cantilever mount.
  4. Lindsay Stuart M. ; Jing Tianwei, Scanning probe microscope for use in fluids.
  5. Lindsay Stuart M. (Tempe AZ), Variable temperature scanning probe microscope based on a peltier device.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Adams, Jesse D.; Sulchek, Todd A.; Feigin, Stuart C., Cantilevered probe detector with piezoelectric element.
  2. Adams, Jesse D.; Sulchek, Todd A.; Feigin, Stuart C., Cantilevered probe detector with piezoelectric element.
  3. Adams, Jesse D.; Sulchek, Todd A.; Feigin, Stuart C., Cantilevered probe detector with piezoelectric element.
  4. Adams, Jesse D.; Sulchek, Todd A.; Feigin, Stuart C., Cantilevered probe detector with piezoelectric element.
  5. Adams, Jesse D.; Rogers, Benjamin S.; Sulchek, Todd A., Cantilevered probes having piezoelectric layer, treated section, and resistive heater, and method of use for chemical detection.
  6. Adams, Jesse D.; Rogers, Benjamin S.; Sulchek, Todd A., Cantilevered probes having piezoelectric layer, treated section, and resistive heater, and method of use for chemical detection.
  7. Adams, Jesse D.; Rogers, Benjamin S., Chemical sensor with oscillating cantilevered probe and mechanical stop.
  8. Adams,Jesse D.; Rogers,Benjamin S.; Sulchek,Todd A., Liquid cell and passivated probe for atomic force microscopy and chemical sensing.
  9. Viani, Mario; Proksch, Roger; Rutgers, Maarten; Cleveland, Jason; Hodgson, Jim, Modular atomic force microscope with environmental controls.
  10. Bussan, John Edward; Nelson, Michael R.; Fragala, Joseph S.; Henning, Albert K.; Rendlen, Jeffrey R., Nanomanufacturing devices and methods.
  11. Adams, Jesse D., Self-sensing array of microcantilevers for chemical detection.
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