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Semiconductor active fuse operating at higher supply voltage employing current oscillation 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05F-001/10
  • G05F-003/02
출원번호 US-0619646 (2000-07-19)
우선권정보 JP-0035995 (2000-02-14)
발명자 / 주소
  • Shunzou Ohshima JP
출원인 / 주소
  • Yazaki Corporation JP
대리인 / 주소
    Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett, & Dunner, L.L.P.
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 0

초록

A high-voltage semiconductor active fuse has first and second semiconductor elements, a comparator for comparing the voltages of the first and second semiconductor elements with each other, a driver for supplying a control voltage to the control electrodes of the first and second semiconductor eleme

대표청구항

1. A semiconductor active fuse comprising:a first semiconductor element having a first main electrode connected to a DC power supply outputting supply voltage higher than 12V, a second main electrode connected to a load, and a control electrode; a second semiconductor element having a first main ele

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Blanchard, Richard A., High voltage power MOSFET having low on-resistance.
  2. Blanchard,Richard A., High voltage power MOSFET having low on-resistance.
  3. Ohshima, Shunzou; Aono, Hiroko, Load control apparatus.
  4. Cecco, Alessandro; Driussi, Paolo, Method and circuit for determining faults in appliances.
  5. Holmquist, Thomas W; King, Ron L.; Eccher, Joseph A, Motor driver fault protector.
  6. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  7. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  8. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  9. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  10. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  11. Ohshima, Shunzou, Overcurrent protection power supply apparatus.
  12. Arndt, Christian, Protection circuit and method of protecting a load circuit.
  13. Bardouillet,Michel; Malherbe,Alexandre, Resistive polysilicon element controllable to irreversibly decrease its value.
  14. Yamashita, Katsushige; Nisimura, Hisaji; Yamazaki, Hiromu; Inoue, Masaki; Satoh, Yoshinobu, SOI semiconductor device having gettering layer and method for producing the same.
  15. Ishii, Motonori, Semiconductor instrument.
  16. Li, Qiong M.; Tsecouras, Michael Joseph; Skelton, Dale James; Teng, James, Systems and methods for providing over-current protection in a switching power supply.
  17. Kamezawa, Tomoya; Takata, Naoki; Hirota, Masayuki; Hiraga, Masahiro; Ibori, Satoshi, Temperature detection method of semiconductor device and power conversion apparatus.
  18. Landmann, Wolf, Three-lead electronic switch system adapted to replace a mechanical switch.
  19. Iwagami,Yuki; Yamashita,Manabu; Hashimoto,Kohji, Vehicle-borne electronic control device.
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