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Surface flaw detection using spatial raman-based imaging 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-003/44
출원번호 US-0350329 (1999-07-09)
발명자 / 주소
  • John Francis Maguire
  • John David Busbee
  • Steven R. LeClair
출원인 / 주소
  • Southwest Research Institute
대리인 / 주소
    Baker Botts L.L.P.
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 24

초록

A Raman-based spatial analysis method of detecting surface flaws. Special filters and optics are used to acquire filtered Raman response data from a portion of the surface. The filtered Raman response data represents the Raman response of the surface at a selected frequency. A camera records the res

대표청구항

1. A Raman-based spatial imaging method of using a computer to detect flaws in a surface, comprising the steps of:storing reference data representing at least one Raman peak of a reference surface; illuminating an area of a subject surface; filtering Raman response illumination received from the ill

이 특허에 인용된 특허 (24)

  1. Batchelder John S. (Somers NY) Hobbs Philip C. D. (Briarcliff Manor NY) Taubenblatt Marc A. (Pleasantville NY) Cooper Douglas W. (Millwood NY), Apparatus and a method for high numerical aperture microscopic examination of materials.
  2. Milne Christopher G. (#170 4831 E. Summitt Cr. Knoxville TN 37919) Shelby ; Jr. Paulus P. (3115 B Marion Dr. Knoxville TN 37918) Bailey David L. (3700 Sutherland Ave. ; Apt. Y-3 Knoxville TN 37919), Apparatus and microbase for surface-enhanced raman spectroscopy system and method for producing same.
  3. Manada Nobuaki (1-24 ; Yagiyamaminami 1-chome Taihaku-ku ; Sendai-shi ; Miyagi-ken JPX) Ito Junji (16-3 ; Yagiyamamidori-cho Taihaku-ku ; Sendai-shi ; Miyagi-ken JPX) Kurabayashi Toru (9-23 ; Yagiyam, Apparatus for epitaxially growing a chemical compound crystal.
  4. Iturralde Armando (San Antonio TX), Automatic film deposition control method and system.
  5. Holland Leslie (Crowley GB2), Control of deposition of thin films.
  6. Wilmanns Ingo (Gelsdorf DT), Control of vapor deposition.
  7. Southwell William H. (Thousand Oaks CA) Hall Randolph L. (Newbury Park CA), Deposition of multiple layer thin films using a broadband spectral monitor.
  8. Dagenais Mario (Chevy-Chase MD) Wu I-Fan (Hyattsville MD), Ellipsometric approach to anti-reflection coatings of semiconductor laser amplifiers.
  9. Knoll Wolfgang (Mainz DEX) Knobloch Harald (Albig DEX), Examination of physical properties of thin films.
  10. Pelletier Michael J., Fiber optic probe with integral optical filtering.
  11. Laube Samuel J. P. (Cincinnati OH) Stark Elizabeth F. (Dayton OH), Hierarchical feedback control of pulsed laser deposition.
  12. Sevillano Evelio (Lexington MA) Bourget Lawrence P. (Winchester MA) Post Richard S. (Lexington MA), High growth rate plasma diamond deposition process and method of controlling same.
  13. Wajid Abdul (East Syracuse NY), Measuring and controlling deposition on a piezoelectric monitor crystal.
  14. Yu Chorng-Tao (Yorba Linda CA) Isaak Kenneth H. (Tustin CA), Method for film thickness endpoint control.
  15. Horie Masahiro (Kamikyo JPX) Fujiwara Nariaki (Kamikyo JPX) Kokubo Masahiko (Kamikyo JPX), Method of measuring film thicknesses.
  16. Bachmann Klaus J. (Raleigh NC) Dietz Nikolaus (Raleigh NC) Miller Amy E. (Raleigh NC), Methods for monitoring and controlling deposition and etching using p-polarized reflectance spectroscopy.
  17. Hall James T. (Torrance CA), Multiple-notch rugate filters and a controlled method of manufacture thereof.
  18. Maguire John Francis ; Busbee John David ; Liptak David Charles ; Lubbers David Peter ; LeClair Steven R. ; Biggers Rand Robert, Process control for pulsed laser deposition using raman spectroscopy.
  19. Lee Tseng-Chung ; Maynard Helen Louise, Process for fabricating a device using polarized light to determine film thickness.
  20. Fink Manfred F. ; Robinson John C. ; Buell Walter F., Raman spectrometer.
  21. Maguire John F. (San Antonio TX), Remote spectroscopy for raman and brillouin scattering.
  22. Harhay Gregory P., Resonance raman spectroscopy for identifying and quantitating biomatter, organic, and inorganic analytes.
  23. Murarka Narayan P. (Hoffman Estates IL) Kogler Kent J. (Orland Park IL) Bartholomew Craig S. (Glen Ellyn IL) Betz Howard T. (Chesterton IN) Harris Richard J. (Bellbrook OH), Rugate optical filter systems.
  24. Hartog Arthur H. (Southampton GBX), Suppression of stimulated scattering in optical time domain reflectometry.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Selvamanickam,Venkat; Li,Yijie; Park,Chan, High throughput continuous pulsed laser deposition process.
  2. Lee, Donald B., Plug-n-play power system for an accessory in an aircraft.
  3. Halliyal,Arvind; Singh,Bhanwar; Subramanian,Ramkumar, Scatterometry and acoustic based active control of thin film deposition process.
  4. Kobayashi, Shinichi; Hamada, Noritsugu, Superconducting wire inspection apparatus and method.
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