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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0350329 (1999-07-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 24 |
A Raman-based spatial analysis method of detecting surface flaws. Special filters and optics are used to acquire filtered Raman response data from a portion of the surface. The filtered Raman response data represents the Raman response of the surface at a selected frequency. A camera records the res
1. A Raman-based spatial imaging method of using a computer to detect flaws in a surface, comprising the steps of:storing reference data representing at least one Raman peak of a reference surface; illuminating an area of a subject surface; filtering Raman response illumination received from the ill
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