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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0789422 (2001-02-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 5 |
A substantially defect-free, low-k dielectric film having improved adhesion is provided by (a) applying a silane coupling agent containing at least one polymerizable group to a surface of a substrate so as to provide a substantially uniform coating of said silane-coupling agent on said substrate; (b
1. A method of fabricating an integrated circuit comprising the steps of:(a) applying a silane coupling agent containing at least one polymerizable group to a surface of a substrate to provide a substantially uniform coating of said silane-coupling agent on said substrate; (b) heating said substrate
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