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Self-retained spring probe

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0614422 (2000-07-12)
발명자 / 주소
  • Gordon A. Vinther
  • Charles J. Johnston
  • Scott D. Chabineau
  • Brian L. Crisp
출원인 / 주소
  • Delaware Capital Formation, Inc.
대리인 / 주소
    Christie, Parker & Hale, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 10

초록

An external spring probe is provided having a first section and a second section which extend and compress relative to each other. The first section consists of a tip at one end and a first contact component opposite the tip. A flange extends radially outward between the tip and the first contact co

대표청구항

1. A spring probe comprising:a barrel having an open end and a closed end and comprising, a tip extending from the closed end, and a flange extending radially outward from the barrel; a plunger comprising, a tip at one end, a stem extending opposite of the tip and slidably fitted within the barrel;

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Hayes James M. (Loveland CO) Kanack Kris J. (Loveland CO), Board alignment system.
  2. Jenkins Jack E. (6322 Temple City Blvd. Temple City CA 91780), Captivated, pre-loaded spring means for vacuum displaced circuit board testing.
  3. Kazama Toshio (Nagano JPX), Coil spring-pressed needle contact probe.
  4. Wilson Albert H. (Los Angeles CA), Contact assembly.
  5. Pollock Ira G. (Beaverton OR) Manor Jon C. (Aloha OR), Controlled impedance microcircuit probe.
  6. Hock See S. (Penang MYX) Loon Chan S. (Penang MYX), Low impedance electric connector.
  7. Mawby Terry P., Probe with tab retainer.
  8. Giringer Klaus (Herrenberg DEX) Hinnerwisch Sven (Nufringen DEX) Krger Gustav (Herrenberg DEX), Resilient contact pin.
  9. Sobhani Mohi, Spring loaded contact device and rotary connector.
  10. Katz Jonathon H. (Brookline MA), Test pin.

이 특허를 인용한 특허 (26)

  1. Winter,John M.; Nelson,Larre H.; Bergeron,John C.; Sarcione,Lourie M., Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment.
  2. Winter,John M.; Nelson,Larre H.; Bergeron,John C.; Sarcione,Lourie M., Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment.
  3. Hwang,Dong Weon, Contact for electronic devices.
  4. Suzuki, Katsumi; Suzuki, Takeyuki, Contact probe and semiconductor element socket provided with same.
  5. Yamamoto, Tsugio, Contact probe and socket.
  6. Yamamoto, Tsugio; Todoroki, Takeshi, Contact probe and socket.
  7. Yamada, Yoshio; Ito, Osamu, Contact structure unit.
  8. Mason, Jeffery W.; Alden, III, Wayne Stewart, Contacts for use with an electronic device.
  9. Marx,Donald A.; Thurston,William E., Dual tapered spring probe.
  10. Suzuki, Katsumi; Suzuki, Takeyuki, Electric connecting apparatus for semiconductor devices and contact used therefor.
  11. Hsu, Hsiu-Yuan; Chen, Ke-Hao, Electrical contact having stamped contact pins movably assembled within enclosure member thereof.
  12. Treibergs,Valts, Electrical contact probe with compliant internal interconnect.
  13. Kaashoek, Kurt F., Electrical spring probe.
  14. Winter, John M., Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same.
  15. Suzuki, Katsumi; Nakamura, Yuji; Suzuki, Takeyuki; Ota, Yukio, Inspection probe and an IC socket with the same.
  16. Todoroki, Takeshi, Inspection unit.
  17. Sochor, Jerzy Roman, Low inductance contact probe with conductively coupled plungers.
  18. Kazama,Toshio, Microcontactor probe assembly having a plunger and electric probe unit using the same.
  19. Tan, Yin Leong, Probe for testing integrated circuit devices.
  20. Vander Horst, John, Recreational vehicle holding tank sensor probe.
  21. Mason, Jeffery Walter; Alden, III, Wayne Stewart, Socket connectors and methods of assembling socket connectors.
  22. Johnston, Charles J.; Chabineau, Scott; Treibergs, Valts; Yakushev, Sergey; Swart, Mark; Kottmeyer, Edward A., Spring contact assembly.
  23. Johnston, Charles J.; Chabineau, Scott; Treibergs, Valts; Yakushev, Sergey; Swart, Mark; Kottmeyer, Edward A., Spring contact assembly.
  24. Johnston, Charles J.; Chabineau, Scott; Treibergs, Valts; Yakushev, Sergey; Swart, Mark; Kottmeyer, Edward A., Spring contact assembly.
  25. Swart, Mark A.; Snyder, Kenneth R., Terminal for flat test probe.
  26. Lee, Jae Hak, Test probe for test and fabrication method thereof.
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