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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0871430 (2001-05-31) |
우선권정보 | KR-0073807 (2000-12-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 330 인용 특허 : 13 |
Methods of forming thin films include forming a first layer comprising a first element that is chemisorbed to a surface of a substrate, by exposing the surface to a first source gas having molecules therein that comprise the first element and a halogen. A step is then performed to expose the first l
1. A method for forming a thin film comprising:providing a first reactant containing a halogen on a semiconductor substrate in order to chemisorb a first reactant adsorption layer combined with the halogen on the semiconductor substrate; providing activated hydrogen gas to the first reactant adsorpt
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