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Mechanical gauges for quality assurance of laser peening 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-001/00
  • C21D-001/54
출원번호 US-0592534 (2000-06-12)
발명자 / 주소
  • Allan H. Clauer
  • Steven M. Toller
  • Jeff L. Dulaney
  • David F. Lahrman
출원인 / 주소
  • LSP Technologies, Inc.
대리인 / 주소
    Randall J. Knuth
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 3

초록

A method and apparatus for measuring the quality of a laser peening process, which includes a test element, a mount for the test element, wherein the test element is mounted at a preselected point in the anticipated path of a laser pulse, the laser pulse irradiates the test element, the deflection o

대표청구항

1. A gauge for ensuring the proper operation of a laser shock peening system, said gauge comprising:a test element; and a mounting means for mounting said test element such that a portion of said test element is in the anticipated path of a single laser pulse; wherein said test element sustains a de

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Mannava Seetharamaiah ; Cowie William D. ; Wright ; III P. Kennard ; McClain Robert D., In plane deflection coupon for monitoring and controlling of laser shock peening.
  2. Mannava Seetharamaiah ; Cowie William D. ; Wright ; III P. Kennard ; McClain Robert D., Method of monitoring and controlling laser shock peening using an in plane deflection test coupon.
  3. Sokol David W. ; Walters Craig T. ; Epstein Harold M. ; Clauer Allan H. ; Dulaney Jeffrey L. ; O'Loughlin Mark, Quality control plasma monitor for laser shock processing.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Luna, Alberto; Miller, Joshua Leigh; Dingwell, William Terence; Brunck, Michael Jay; Imhoff, William Lee; Moncelle, Paul; Lombardo, Dale Robert; Woodfield, Andrew Philip, Method for increasing fatigue notch capability of airfoils.
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