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CMOS temperature sensor 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-035/00
출원번호 US-0650023 (2000-08-28)
우선권정보 EP-99830540 (1999-08-31)
발명자 / 주소
  • Giovanni Matranga IT
  • Luca Lo Coco IT
  • Giuseppe Compagno IT
출원인 / 주소
  • STMicroelectronics S.r.l. IT
대리인 / 주소
    Lisa K. Jorgenson
인용정보 피인용 횟수 : 56  인용 특허 : 3

초록 ▼

A CMOS temperature sensor includes a first circuit portion for generating a voltage signal whose value increases with the temperature to be sensed, and a second circuit portion for generating an electric voltage signal whose value decreases with the temperature to be sensed. A comparator is provided

대표청구항 ▼

1. A temperature sensor comprising:a first circuit portion for generating a first signal having a first voltage value that increases with a temperature to be sensed; a second circuit portion comprising a vertical bipolar transistor connected in a diode configuration for generating a second signal ha

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Suzuki Naoshi,JPX, Semiconductor integrated circuit having a digital temperature sensor circuit.
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  2. Kinoshita Hitoshi (Kawasaki JPX) Hashimoto Masaru (Yokohama JPX), Temperature detection circuit used in thermal shielding circuit.
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  3. Mattes Michael F. ; Seefeldt James D. ; Rozgo Paul B., Temperature sensor and method.
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이 특허를 인용한 특허 (56)

  1. Yoshida,Munehiro, Advanced thermal sensor.
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  2. Tesi, Davide, Bandgap voltage generator with a bipolar assembly and a mirror assembly.
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  3. Marinca, Stefan, Bandgap voltage reference circuit with high power supply rejection ratio (PSRR) and curvature correction.
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  4. Pan,Dong; Blodgett,Greg A., Device and method for generating a low-voltage reference.
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  5. Pan,Dong; Blodgett,Greg A., Device and method for generating a low-voltage reference.
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  6. Pan, Dong, Devices, systems, and methods for generating a reference voltage.
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  7. McClure, David C.; Saw, Sooping, Digital-to-analog converter circuit and method.
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  8. Blom,Eric D.; Wan,Jun; Urie,Stuart H., Frequency ratio digitizing temperature sensor with linearity correction.
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  9. Hwang, Changku; Pham, Ha; Jian, Daisy; Turullols, Sebastian, High accuracy, compact on-chip temperature sensor.
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  10. Behzad, Arya Reza, High temperature coefficient MOS bias generation circuit.
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  11. Tesi,Davide; Zampieri,Ugo, Integrated digital temperature sensor.
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  12. Chang,Kuen Shan; Uang,Uei Shan; Chen,Mei Show; Hong,Chia Ming, Low supply voltage band-gap reference circuit and negative temperature coefficient current generation unit thereof and method for supplying band-gap reference current.
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  13. Law, Man Kay; Bermak, Amine; Luong, Howard Cam, Low voltage low power CMOS temperature sensor circuit.
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  14. Sinha,Manoj K.; Hush,Glen E., Method and apparatus for controlling refresh operations in a dynamic memory device.
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  15. Sinha,Manoj K.; Hush,Glen E., Method and apparatus for controlling refresh operations in a dynamic memory device.
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  16. Johns,Charles Ray; Wang,Michael Fan, Method and apparatus for on-chip dynamic temperature tracking.
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  17. Wolford, Barry Joe; Sullivan, Jr., James Edward, Method and apparatus to enable the cooperative signaling of a shared bus interrupt in a multi-rank memory subsystem.
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  18. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
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  19. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
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  20. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
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  21. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
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  22. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
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  23. Throngnumchai,Kraisorn; Simoida,Yoshio, On-chip temperature detection device.
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  24. Chou,Chung Cheng, Reference voltage generator circuit having temperature and process variation compensation and method of manufacturing same.
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  25. Walker, Robert Michael; Remaklus, Jr., Perry Willmann, Refreshing dynamic volatile memory.
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  26. Sako, Kazutoshi; Matsuzaki, Tomokazu, Semiconductor device including a constant voltage generation unit.
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  27. Kobayashi, Hiroyuki; Sako, Atsumasa, Semiconductor integrated circuit.
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  28. Kobayashi, Hiroyuki; Sako, Atsumasa, Semiconductor integrated circuit.
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  29. Kobayashi,Hiroyuki; Sako,Atsumasa, Semiconductor integrated circuit.
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  30. Liu, Bo, Semiconductor temperature sensor with high sensitivity.
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  31. Liu, Bo, Semiconductor temperature sensor with high sensitivity.
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  32. Liu,Bo, Semiconductor temperature sensor with high sensitivity.
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  33. Janke, Marcus; Laackmann, Peter, Smart card module and substrate for a smart card module.
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  34. Tokunaga, Yasuhiro, Temperature detection from differences in off leak currents of NMOS and PMOS transistors on CPU chip.
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  35. Min,Young sun; Kim,Nam jong, Temperature detector providing multiple detected temperature points using single branch and method of detecting shifted temperature.
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  36. Pennock, John L., Temperature sensing apparatus and methods.
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  37. Kim,Kwang hyun; Kim,Chan Kyung, Temperature sensing circuit and method.
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  38. Tai, Jy-Der David, Temperature sensing circuit for low voltage operation.
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  39. Won,Myung Gyoo; Kim,Jae Hoon; Park,Jong Wook, Temperature sensing circuit for use in semiconductor integrated circuit.
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  40. Aota, Hideyuki; Watanabe, Hirofumi, Temperature sensor.
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  41. Aota,Hideyuki; Watanabe,Hirofumi, Temperature sensor.
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  42. Sinha,Manoj K.; Hush,Glen E., Temperature sensor.
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  43. Sim,Jae Yoon; Yoo,Jei Hwan, Temperature sensor and method for detecting trip temperature of a temperature sensor.
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  44. Schrödinger, Karl; Stimma, Jaro Robert, Temperature sensor and method for operating a temperature sensor.
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  45. Soldera, Jefferson Daniel De Barros; Olmos, Alfredo; Pietri, Stefano, Temperature sensor device and methods thereof.
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  46. McClure,David C.; Saw,Sooping, Temperature tamper detection circuit and method.
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  47. Torti, Giuseppe; Zambotti, Dario, Temperature-current transducer.
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  48. McClure,David C.; Saw,Sooping, Test mode and test method for a temperature tamper detection circuit.
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  49. McClure, David C.; Saw, Sooping; Wadsworth, Robert, Test mode circuitry for a programmable tamper detection circuit.
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  50. McClure, David C.; Saw, Sooping; Wadsworth, Robert, Test mode circuitry for a programmable tamper detection circuit.
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  51. Daley, Douglas M.; Tran, Hung H.; Woods, Jr., Wayne H.; Zhang, Ze, Thermoresistance sensor structure for integrated circuits and method of making.
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  52. Liu, Yanxiang; Yang, Haining; Rim, Kern, Transistor temperature sensing.
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  53. Far, Ali Tasdighi, Ultra low power high-performance amplifier.
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  54. Far, Ali Tasdighi, Ultra-low power and ultra-low voltage bandgap voltage regulator device and method thereof.
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  55. Far, Ali Tasdighi, Ultra-low power bias current generation and utilization in current and voltage source and regulator devices.
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  56. Far, Ali Tasdighi, Ultra-low power bias current generation and utilization in current and voltage source and regulator devices.
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