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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0654884 (2000-09-05) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 10 |
A method and device for determining a thickness of a layer in an object. For each of a plurality of frequencies, a continuous vibrational wave is generated at a surface of the layer and an energy of a steady state echo wave produced in the object in response to the generated vibrational wave is meas
1. A method for determining a thickness x1 of a layer in an object, the method comprising the steps of:(a) for each of plurality of frequencies f1, . . . fk (aa) generating a continuous vibrational wave at a surface of the layer; (ab) measuring an energy of a steady state echo wave produced in the o
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