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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0812847 (2001-03-21) |
우선권정보 | JP-2000-083970 (2000-03-24); JP-2000-173609 (2000-06-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 1 |
By setting the thickness of the Ti core between 4.about.6 nm and adjusting the thickness ratio of the Pt layer in relation to the thickness of the entire lower electrode, the (100) face orientation degree of a piezoelectric thin film may be set to a prescribed ratio with favorable reproducibility. P
1. A piezoelectric element, comprising:a lower electrode formed on a ZrO2 film; a piezoelectric thin film formed on said lower electrode; and an upper electrode formed on said piezoelectric thin film, wherein the (100) face orientation degree of said piezoelectric thin film measured with the X-ray d
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