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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0755346 (2001-01-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 41 인용 특허 : 157 |
A sensor has an electrical interconnect grown in a cavity between first and second layers that are bonded together. Electrically conductive grain growth material is selectively deposited on at least one of two electrically conductive film interconnect regions that face one another across the cavity.
A sensor has an electrical interconnect grown in a cavity between first and second layers that are bonded together. Electrically conductive grain growth material is selectively deposited on at least one of two electrically conductive film interconnect regions that face one another across the cavity.
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